基于加速科技ST2500的SN74HC00N芯片测试计划

本文详细介绍了SN74HC00N芯片的特性,包括引脚功能、真值表和电气性能。接着阐述了测试电路设计与搭建,包括开短路、输出高电平、输入漏电流和静态工作电流等关键测试步骤,以确保芯片功能的正确性和可靠性。

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目录

一、认识SN74HC00芯片

1.1 74HC00芯片引脚功能

1.2 74HC00芯片真值表

1.3 74HC00芯片电器性能

二、SN74HC00测试电路设计与搭建

2.1 测试接口(硬件电路图)

2.2 测试机资源分配(软件)

三、SN74HC00芯片测试计划实施

3.1 开短路测试

3.2 输出高电平测试

3.3 输入漏电流测试

3.4 ICC静态工作电流测试

3.5 功能测试

3.5.1 测试TIM

3.5.2 测试代码

四、测试结果

附件1:测试pattern


一、认识SN74HC00芯片

        SN74HC00是一种四路2输入与非门集成电路(IC)。它属于74HC系列IC,并广泛应用于数字逻辑电路。该IC具有四个独立的与非门,每个门由两个输入和一个输出组成。它适用于广泛的电源电压范围,并以其高速性能和低功耗而闻名。SN74HC00常用于诸如反向逻辑功能、门缓冲和信号调节等各种应用中。

1.1 74HC00芯片引脚功能

        74HC00是一个四输入与非门,采用14引脚的双列直插封装(dual in-line package,DIP)或小外形封装(small out-line package, SOP ),其引脚图如图所示。

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