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基于加速科技ST2500的SN74HC138N芯片测试计划
实际上随着工艺的进步,器件内部和引脚间的绝缘氧化膜越来越薄,导致漏电流发生的概率更大,另外制造过程中的工艺缺陷导致的桥接,异物或封装过程中造成的芯片划伤、引裂,都会造成IC的漏电流偏大,有部分产品可能会表现出漏电流偏大,但功能正常,此类产品具有潜在的可靠性问题,漏电流测试的目的就是把具有此类缺陷的产品筛选出来,避免其流到最终产品造成更大的损失。电路的输出通常会带有负载或驱动下一级的输入,VOH/IOH参数测试是为了检验DUT引脚在规定的电流条件下,输出电压是否可以按要求保持逻辑“1”的状态。原创 2024-04-02 16:15:10 · 93 阅读 · 0 评论 -
基于加速科技ST2500的SN74HC00N芯片测试计划
实际上随着工艺的进步,器件内部和引脚间的绝缘氧化膜越来越薄,导致漏电流发生的概率更大,另外制造过程中的工艺缺陷导致的桥接,异物或封装过程中造成的芯片划伤、引裂,都会造成IC的漏电流偏大,有部分产品可能会表现出漏电流偏大,但功能正常,此类产品具有潜在的可靠性问题,漏电流测试的目的就是把具有此类缺陷的产品筛选出来,避免其流到最终产品造成更大的损失。漏电流的测试方法相对简单,就是根据产品手册或测试规范对被测引脚施加额定的电压,然后测量其输入或流出的电流是否符合相应的设计规范。74HC00引脚功能如表所示。原创 2023-11-10 18:48:39 · 332 阅读 · 0 评论 -
基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(5)
当我们选择一款稳压器时,常常会关注它的一个重要参数,就是带负载能力,即LDO实际输出电压与理论输出电压偏差在有限的范围内可以输出最大电流的能力。但是,现实中带负载越大,对LDO的输出影响越大,如图所示。而负载调整率就是用来表征在不同/OUT下引起输出电压变化(相对理论输出电压)的比例。(5)使用BPMU的“FIMV”工作模式对OUT引脚施加-10mA电流测量其电压stMeasValue2。(4)使用BPMU的“FIMV”工作模式对OUT引脚施加-1mA电流测量其电压stMeasValue1。原创 2023-07-17 17:14:15 · 303 阅读 · 0 评论 -
基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(4)
稳压器的输入电压和输出电压的差值就是稳压器的压差。在一定的负载电流下,稳压器以最小的输入电压维持正常的输出电压,此时输入电压与输出电压的差值称为最小压差。为了保证输出电压的稳定,在实际应用中需要根据负载电流的大小来判断保证正常的输出电压所需的最小压差。稳压器的压差决定了它的工作电压范围,低压差的稳压器可以接受更低的工作电压,应用在输入电压更低的场合,并且降低了耗散功率,提高了效率。例如,5.0V额定输出,500mV压差的低压差线性稳压器,只要输入电压大于或等于5.5V,就能使输出电压稳定在5.0V。原创 2023-07-17 17:03:08 · 225 阅读 · 0 评论 -
基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)
当输出端负载 (IOUT)固定时,在输入允许的电压范围内改变VN,稳压器的输出理论上都是一个固定的值。然而,现实中由于工艺原因,稳压器的输出随输入电压改变,会产生定影响。我们用线性调整率来表征稳压器的这种输入电压改变,而输出电压恒定不变的能力。稳压器的线性调整率越小,输入电压变化对输出电压的影响越小,稳压器的性能越好。以TPS73625为例,根据芯片手册要求 (Vo (典型值) + 0.5V VN 5.5V) ,我们可以确定3V< VN < 5.5V。(3)使用DPS资源向IN引脚施加3V电压。原创 2023-07-07 19:13:15 · 299 阅读 · 0 评论 -
基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(2)
稳压器的主要功能就是对输入的电源电压进行调整以输出一个恒定的目标电压。值得注意的是,同一系列的稳压器通常还分为固定输出电压以及可调输出电压两类。稳压器厂家通常将不同输出类型定义成不同的型号,例如TPS73625,是指此款芯片输出固定为2.5V。(3)使用DPS资源向IN引脚施加2.7V/4V/5.5V电压并测量对应的输出电压。(5)使用DPS资源向IN引脚施加2.7V/4V/5.5V电压并测量对应的输出电压。(2)使用PPMU资源向被测芯片EN引脚施加2V电压,使芯片正常工作。(7)对硬件进行复位操作。原创 2023-05-11 19:42:23 · 386 阅读 · 0 评论 -
基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(1)
开短路测试,是基于产品本身管脚的ESD防静电保护二极管的正向导通压降的原理进行测试。进行开短路测试的器件管脚,对地或者对电源端,或者对地和对电源,都有ESD保护二极管,利用二极管正向导通的原理,就可以判别该管脚的通断情况。(2)使用BPMU资源向被测芯片IN引脚施加-100uA电流,将测试结果存储到定义的变量中。(3)使用PPMU资源向被测芯片EN引脚提供-100uA电流,将测试结果存储到定义的变量中。(1)闭合K0继电器,使IN引脚于BPMU资源连接。(4)将测试结果进行分BIN操作。原创 2023-05-08 20:48:03 · 643 阅读 · 0 评论