芯片测试的分析（蛮力+分治）

测试过程

测试结果分析

说明：
第一行：
假设 A 是好的，那么 B 是好的，则 A，B 都是好的。
假设 A 是坏的，那么 B 的报告结果不正确，那么 B 就也是坏的，则 A，B 都是坏的。

第二行：
假设 A 是好的，那么 B 的报告结果不正确，那么 B 就也是坏的，此时一好一坏。
假设 A 是坏的，B 的结果显示 A 是坏的，但是不确定 B 是否坏，有可能坏，有可能好，也就是一好一坏或者两个都坏。
综上所述：至少一片是坏的。

第三行分析过程同第二行。

第四行：
假设 A 是好的，那么 B 一定是坏的，B 的报告结果就无分析意义，此时一好一坏。
假设 A 是坏的，那么 B 不确定好坏。
综上所述：至少一片是坏的。

问题描述

分析

说明：
n = 7时，
（注意：好芯片至少有4个）
假设 A 是好的，那么剩余的 6 个芯片中好芯片至少有 3 个，也就是 6 个报告至少 3 个报 “好”。
假设 A 是坏的，那么剩余的 6 个芯片中好芯片至少有 4 个，也就是 6 个报告至少 4 个报 “坏”。

说明：
n = 8时，
（注意：好芯片至少有5个）
假设 A 是好的，那么剩余的 7 个芯片中好芯片至少有 4 个，也就是 7 个报告至少 4 个报 “好”。
假设 A 是坏的，那么剩余的 7 个芯片中好芯片至少有 5 个，也就是 7 个报告至少 5 个报 “坏”。

蛮力算法

分治算法

说明：
1.淘汰规则分析：
由上面测试结果分析，除了 “好，好 ”的情况是好坏占概率二分之一，其他情况都是坏的概率比较大，所以当一组两个芯片显示 “好，好”，就选择留一个芯片，扔一个芯片。其他情况将两个芯片都扔掉。

2.递归截止条件分析：
当 n <= 3 时，到递归结束的条件，

3 片芯片，1 次测试就可以得到好芯片：
在下面可证明分治算法是正确的，也就满足子问题的性质和原问题的性质相同，即子问题中好芯片至少比坏芯片多一个。

3个芯片，那么至少有两个好芯片。
假设测试一次显示结果为 “好，好”，那么两个都是好的，可以任取一片，结束。
假设测试一次显示结果为其他，那么扔掉这两个，选择剩余那一个，剩余那一个肯定是好的，结束。

1 或 2 个芯片，那么不需要测试，因为好芯片至少比坏芯片多一个，那么这 1 个或者 2 个芯片都是好的，直接选择就可以了。

证明分治算法的正确性

说明：
证明过程依照淘汰规则：都好的留 1 扔 1，其他情况都扔掉。

分治前情况：
2i + 2j +2k = n；
好芯片：2i + j；
坏芯片：2k+ j；
所以：2i + j > 2k+ j；

一次分治后的情况：
留下：i+k；（只有都好都坏才会显示都好，才会背留下来）
好芯片：i ；
坏芯片：k ；
所以：i > k；

即证明完毕。

说明：
当 n 为奇数时，不能直接按照淘汰原则淘汰，这样会使得子问题与原问题性质不一样。

特殊处理就是在淘汰之前加一组蛮力的测试，测试结果为好，则直接结束；
测试结果为坏，则扔掉，数量就变为了偶数，就可以按照分治算法来做。

伪码描述

分治算法的时间复杂度