低电压测量

1.引言：低电压测量中无法忽略常规测量的噪声源和偏置电压，我们会面对什么，如何解决？

2.常见的误差来源：

     1.射频干扰  2.热电动势   3.电压表输入电路的偏置量

3.基础分析：Vm为被测量   Voffset 为误差源  一般情况下，误差源头对测量Vm最终产生的结果为±关系，情况不同，分析结果不同

4.误差源分析 

    4.1 热电动势

      我们知道由于塞贝克效应，不同的材料之前接触会产生热电动势，并且随着温度的而变化。具体不同材料的影响可以参考热电偶设计原理。

      解决办法：

      4.1.1 所有的电路都用同一种材料制作 ，选择塞贝克效应较低的材料做为接触点

      4.1.2 使用反向法消除

        设计两个电池，Va  Vb   Vemf为误差源。如下图进行连接

左图：测量电压为V1 = Va-Vb+Vemf    右图为 V2 = Vb- Va + Vemf

（V1-V2）/2   = Va - Vb  这样就消除了热电动势的影响。注意这个抵消了电路中热电动势其包含了电路中所有的热电动势的代数和，但是两个电压源之间的热电动势未被抵消。保证了测量结果的准确性

4.2 射频干扰

射频干扰 RFI和 EMI（电磁干扰）是在很宽的频谱中的通用叫法，通常干扰会导致设备产生固定的偏置或者不稳定的测量，读数偏置一般 是设备的输入放大器过载或者输入端的直流整流效应引起。

  解决办法:

4.2.1:远离干扰源   4.2.2   干扰屏蔽    4.2.3   测量端进行滤波处理

        内部偏置，一般输入放大器的输入没有信号接入时候不可避免的存在偏置，所以一般读数不是0，当这种情况可以使用短路法进行端口短路，观察测量值的变化，可以测量输入噪声和零点漂移，短路适合用纯铜进行。

         如果是通过恒流源流过电阻进行电压测量，设备通常需要预热几个小时，在此期间不让电流流过被测设备，使温度达到均衡，热噪声降低到最小，接着进行清零操作。

         被测电压无法关闭，此时建议进行恒流源换向测量，对两次的读数据进行平均，一次来消除热电动势。

       零点飘移完全是设备的输入级确定的，大多数设备的都有对输入信号进行斩波或者调制进而调低输入零点漂移，随着温度变化的叫温度漂移系数通常用ppm/℃标识

4.3 噪声

     噪声能够产生很大的误差，常见的噪声来源有约翰逊噪声，磁场噪声地回路噪声。

     4.3.1约翰逊噪声：在电子设备的测量分辨率是由热噪声决定的，所有的电压源都有内阻，内阻会受环境温度变化引起电子移动，进而产生噪声。不同温度产生的影响不同。

        解决办法：电压表的滤波特性和积分特性可调，一般决定于AD的能力，可以通过增加滤波次数或者在多个周期中进行积分，进而降低带宽。这样的缺点是测量速度降低，测量时间变长，相应会导致热噪声的引入。当热噪声和电路的响应时间为一个时间节拍时候，就无法进行区分了。

    4.3.2 磁场  磁场磁场生电原理，此处不做解解析。一般具体措施为，外围走线双绞线，内部走线双绞线，减少回路面积，进而降低感应磁通量，减低干扰。

    4.4 地回路

      地回路设计造成的干扰在设计中常见，当存在两个接地点，就会造成两个不同的回流路径，产生🔺v,进而对测试产生很大影响

     解决办法：

    4.4.1  设备上进行单点接地，最简单的办法就是使用隔离电源和仪器，然后整个系统找出一个单点的地进行接地。不能和大功率系统接一个地。

   4.4.2 共模电流和反向误差，过大的共模电流会影响低电平的测量，常常与噪声有关，常见问题

   共模电流：是设备仪器的lo端和设备的机箱和大地接地点之间流动的电流，幅度决定于

Icm = 2ΠfC（Ccoupling）(V2±V1) f为电源频率，如下图

     

寄生电容C1，使共模电流流过了lo和地的阻抗Rzm   产生了V = Icom*Rzm  共模电压决定了共模电流的大小值

共模反向误差，很少见，一般是由于电压源中的电阻分压器导致的，正反换向会在分压电阻器上产生压降，Icm流过分压电阻器 产生🔺V,从而产生干扰。

解决办法：将地隔离，避免反向测量