电池充电那些事之磷酸铁锂电池充电时概率性芯片烧毁

背景：
BQ24630（规格书中最大支持到7串电池）对6串的磷酸铁锂电池（21.6V,3000mAH）充电。根据TI的demo原理图进行设计（demo设计是接入4串电池），但是在不接入电源，仅插入电池时，会有30%的概率导致充电芯片烧坏，风险特别高

解决方案：
由于电池电压接近规格书，导致在上电瞬间有很高的毛刺，使用TVS、稳压管、加大电容等都无法实现消除毛刺的作用；经过实验，在电池与IC之间增加一个MOS电路，延迟约300ms后，使电池电压导通，可以有效消除此问题

总结&心得：
增加mos缓冲电路，保证原来方案不更改的情况下，消除IC损坏风险，满足MP正常生产。关键点、易错点：在进行设计是，要注意demo原理图的参考电路，与实际使用存在的差异，注意风险管控。针对高电压，大容量的电池的相关电路，需要在设计和测试时考虑到多种条件，发现问题，及时在试产阶段前解决，避免后续出现方案变更或造成量产延迟。