霍尼韦尔测厚仪备件08486532

测厚仪的作用

测量各种材料的厚度

测厚仪的作用是测量各种材料的厚度，包括金属、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维等，以及涂层和薄膜的厚度。

测厚仪通过不同的工作原理进行厚度测量，包括但不限于：

共振法：通过测量材料在不同频率下的振动状态来推断其厚度。

干涉法：利用光波的干涉现象来测量材料的厚度。

脉冲反射法：通过测量超声波脉冲在材料中传播并反射回来的时间来计算材料的厚度。

不同类型的测厚仪有各自的应用领域和特点：

激光测厚仪：利用激光的反射原理，通过光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。

X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性来测定材料的厚度，适用于有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，具有测量范围宽、测量精度高的特点。

涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。

超声波测厚仪：根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料。

这些测厚仪在工业生产中常用来连续测量产品的厚度，如钢板、钢带、纸张等，以及在生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量。