射频芯片ATE测试从入门到放弃之收发机

（续上）
3.收发器介绍

先简单的介绍收发机，目前主流的就有超外差结构 Super heterodyne Architecture（它需要两个或者两个以上混频器将调制的射频信号调制到中频信号，然后应用I/Q 解调器，将信号直接分解为I、Q基带信号）
直接变频/零中频架构Direct Conversion (Zero-IF)【射频信号不需要经过混频，直接通过IQ解调器，解调出I、Q基带信号】
直接射频采样RF Sampling（就是采用频率较高的ADC，直接将RF射频信号，转换为数字信号，这种方式适用于频率和采用率不高的场合，像12bit ADC 10GS/s 价格还是很可观的，精度却不高 ，一般测试机起步都是16-24bit）

这是个RFIC的基本原理框图，对其中涉及到的硬件进行详细介绍：

（1）天线分为有源和无源，有源天线仅仅是比无源天线在内部多了放大器而已。决定天线形状和大小有3因素，频率（频率越低，天线规模越大，一般是1/4波长），方向（全向天线通常规模大于定向天线），功率（通常无线电波收发功率越大，天线规模越大）。当然天线专门涉及到一个学科，里面还是涉及到很多内容，如果你只是做测试，感觉这些就够了，如果有兴趣还可以研究下天线增益（其本质就是方向增益dBi）;极化（由于射频波在空气中传输，sine波本身具有方向，垂直或者水平，这个方向就是极化。将水平极化信号和垂直极化信号合并就是圆形极化，分为右手圆形RHC，左手圆形LRC）;

（2）放大器主要涉及3类，低噪声(LNA)，具有相对低的噪声系数（NF），一般越低的噪声就需要花费更大的时间，价钱成本。还有一类是高功率（HPA），规模次LNA大一点，有部分功率通过热量的形式跑掉了。最后介绍一种可变增益放大器（VGA），大多数放大器增益是固定而VGA可以通过控制信号进行调节。
通常放大器需要测量线性，线性用来度量放大器使信号形状失真的程度，其中P1dB（1dB压缩点）是一个放大器输出的最高线性功率。还有一个是IP3(3阶互调点)是个虚构点它事实上不存在，通过算法可以推导出来，一般而言IP3比P1dB大10dB

（3）滤波器实质上就是“选频”，既允许某一部分频率的信号顺利通过，而另一部分频率的信号被滤掉。根据工作信号的频率范围分为低通LPF，高通HPF，带通BPF，带阻BEF，通常而言，频率越高，滤波器越小。滤波器(Filter）有无源器件，不需要电源，和有源之分，本质上来说滤波器是通过改变它们的插入损耗（RL）来工作的，有源的滤波器只是在无源器件之后加一个集成运放，里面有一阶二阶之分，就是串几个滤波器，就是几阶有源滤波器。这里有一种特殊的滤波器叫SAW滤波器，不满足这个结论，SAW滤波器工作原理首先是将射频信号转化为声音信号，然后把滤出的声音信号再转为射频信号。

（4）混频器，邪恶的混频器，为啥？这么声名狼藉的绰号，就是由于它将噪声引入到了射频系统中，所以通常混频器之后都有滤波器。mixer目的就是改变信号的频率但保持其他特性不变，有上变频和下变频之分，其出来的信号分别是F+LO和F-LO。一般而言频率范围越宽，混频器损耗越大，性能也越差。

(5) IQ 调制器使得I/Q信号相互正交（积分意义上），因此它们之间不会相互干扰。 IQ 调制器的输出为是 IQ 信号的组合，就是一个单一的中频信号。该中频信号经过上变频器转换为射频信号后，再通过放大后进行发射。或者该中频信号经过下变频器转换为基带信号。

目前，先进的数字信号处理和专用应用芯片技术提高了数字系统的集成度。现在一块单一的芯片就集成了从 ADC 转换到中频调制输出的大部分功能。因此，模块级和芯片级的射频测试点会减少很多，发射器系统级和天线端的测试和故障分析就变得更加重要。

下期将带来RF芯片相关参数测试。