基于ATE的ADC测试-静态参数

最新推荐文章于 2024-07-26 16:12:28 发布
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分类专栏： ATE 文章标签： 物联网 c语言 开发语言
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本文链接：https://blog.csdn.net/smile19870124/article/details/130232380
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文章描述了一次ATE(自动测试设备)的测试过程，首先使用16位ADC以1MHz的采样率生成655360点的斜波，并捕获同等数量的数据点。接着，这些数据被划分为65536个桶进行Histogram分析。然后，利用DSP算法对ADC采样得到的线性波形数据进行Histogram处理，进一步分析包括ADC动态范围、噪声和失真等信息。
摘要由CSDN通过智能技术生成

16位ADC共65536个点

1.ATE描绘一条斜波 

655360 个点,fs=1Mhz，每个台阶描绘10个点。

2.ATE使用1Mhz频率 capture一个周期为655360的数组adc_lin_wave

3.将采集到的数据分为65536个柱形图

DSP_HISTOGRAM (adc_lin_wave, histogram, 1, 65535, 65536);

4.对柱形图做分析

DSP_ADC_HISTOGRAM ( histogram, &adc_lin, adc_dnla, adc_inla, &miss_number, miss_codes, END_PT, min_code_size );}

ATE描绘一条正弦波 

*HANK*
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ADC/DAC静态参数测试系列（一）——什么是ADC转换点
虹科卫星与无线通信事业部的博客
01-15 981
在现代电子系统设计与高速通信、信号处理、雷达探测、医疗成像以及各种工业自动化应用中，模数转换器（ADC）和数模转换器（DAC）扮演着至关重要的角色。ADC负责将模拟信号精确且高效地转换为数字信号，以便于进行数字信号处理和数据传输；而DAC则执行相反的功能，它将数字数据流还原为高质量的模拟信号，以供实际设备或系统使用。随着技术的不断进步，尤其是对于5G通信、航空航天及国防等领域的严苛要求，高速、高精度、高分辨率以及大动态范围的ADC和DAC变得越来越重要。
武器装备自动测试(ATE)系统设计要点
weixin_45013592的博客
01-28 2405
1.设备组成 ETest_RT系统主要由硬件部分与软件部分组成。硬件部分由上位机和实时下位机组成，上位机采用商用便携计算机，下位机采用PXI测控计算机。上位机安装Windows操作系统，运行设备资源管理、测试设计、测试调度、运行服务器、数据中心、运行客户端、实时动作下载调试器；下位机安装实时操作系统，运行装载器模块、实时进程模块、上传器模块；下位机通过各类PXI接口板卡与被测系统相连。ETest_RT系统的硬件结构原理图如下图所示。 ETest_RT采用构件化分层的软件开发框架，软件底层代码基于 GCC
深度解析SOC 中ADC 测试技术
01-20
ADC静态测试的方法已研究多年，国际上已有标准的测试方法，但静态测试不能反映ADC的动态特性，因此有必要研究动态测试方法?动态特性包括很多，如信噪比（SNR）?信号与噪声+失真之比（SINAD）?总谐波失真（THD）?无杂散动态范围（SFDR）?双音互调失真（TMD）等?本文讨论了利用数字方法对ADC的信噪比进行测试，计算出有效位数，并通过测试证明了提高采样频率能改善SNR，相当于提高了ADC的有效位数?在本系统中使用了AD9224，它是12bit?40MSPS?单5V供电的流水线型低功耗ADC?　　1.SOC 测试的复杂性　　随着设计与制造技术的发展，集成电路设计从晶体管的集成发展到逻辑门的
ADC静态特性测试
qq_41545745的博客
08-18 1696
ADC、静态特性测试、INL、DNL、码密度法（code density）
ATE TE测试程序设计 002
最新发布
woainbadc的专栏
07-26 130
-哪个flow的那个suit 给哪个pin输入多长时间的电压/电流数组 得到测试结果 将请求和结果计算得出fail/pass。final test ：合格die重新封装后测试，目的将封装后芯片根据故障覆盖 分bin 投放不同行业。BI测试/burn-in/老化测试：高温高压不可控天气。8 DE分析故障/缺陷，优化设计，下次批流片验证。--根据不同分类设计测试flow和suit。--根据缺陷设计抽象故障，将故障分类。--编辑模型生成输入信号请求向量。6 执行量产,分bin。基于单dut系统测试。
SAR ADC系列1：静态指标
qq_41545745的博客
03-27 4594
简单的介绍了ADC的静态指标（失调、增益误差，单调性，积分非线性、微分非线性）（Offset、Gain Error、Monotonicity、DNL、INL ），并且介绍了DNL&INL测试理论方法
ADC静态测试全流程：以斜坡测试为例（一）
hongke_weixin的博客
06-14 1332
一文带您了解如何进行ADC&DAC精度测试经过往期文章的介绍，有不少读者希望深入了解德思特ATX测试系统具体是如何执行ADC性能测试的。本文将详细阐述如何利用该系统进行精确的ADC静态参数测试。我们将以斜坡测试（Ramp test）这一典型测试流程为例，指导您高效地使用我们的ATX测试系统来完成这一关键任务。在今天的文章中我们将先介绍ADC静态参数测试中的“测试适用性”以及“硬件准备”两部分内容。
ADC动态参数静态参数INLDNL测试说明文档.rar
01-03
主要是关于“ADC动态、静态参数测试的”matlab代码的说明性稳定合集
EDA/PLD中的基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究
11-03
软件设计部分，Verilog硬件描述语言用于编写FPGA的控制逻辑，产生各种测试信号，如全零、全一、阶梯波和正弦波，以测试静态和动态特性。数据分析和计算则通过Matlab完成，例如输入全零和全一信号来计算失调误差和...
模拟技术中的LTC2383-16 - 具串行接口的 16 位、1Msps、低功率 SAR ADC
11-05
典型应用包括医疗成像系统、高速数据采集设备、便携式或紧凑型仪表、工业过程控制、低功率电池供电仪器以及自动测试设备(ATE)。 总之，LTC2383-16是一款集高速、低功耗和高精度于一身的SAR ADC，其全面的特性和功能...
射频芯片ATE测试从入门到放弃之收发机
zy731025074的博客
07-15 1517
关于射频芯片ATE测试从入门到放弃的研究，希望大家多多支持
adc 测试软件,ADC芯片参数测试技术解析
weixin_39928102的博客
07-27 1586
随着数字技术的不断发展和计算机在信号处理、控制等领域中的广泛应用，过去由模拟电路实现的工作，今天越来越多地由数字电路或计算机来处理。作为模拟与数字之间的桥梁，模拟数字转换器(ADC)的重要性越来越突出，由此也推动了ADC测试技术的发展。本文首先介绍了ADC的测试，包括静态参数和动态参数测试，然后结合自动测试系统测试实例，详细介绍了 ADC芯片参数的测试过程。测试原理1. 1　静态参数的测试原理AD...
一文带你了解ADC测试参数有哪些？
hongke_weixin的博客
11-17 600
ADC芯片在出厂交付之前，需要对产品的性能做各种测试，尤其对于要求可靠性和安全性较高的行业，诸如航空航天、医用医疗、汽车电子等应用领域，都需要对ADC芯片做严苛的性能测试验证。我们采用紧凑型模块化集成的ATE测试硬件台架，配套专用的测试分析软件ATView和WaveAnalyzer，给您提供ADC测试交钥匙解决方案。目前针对ADC芯片的性能测试，表现出朝着高采样率、高精度等性能参数测试的发展趋势。ADC测试参数主要包括静态参数和动态参数。完全集成的ADC测试解决方案。图2. ADC动态参数测试。
什么是ADC测试，能进行自动化测试吗?
namisoft123的博客
11-09 582
在ADC测试中，可以使用ATE测试设备提供时钟信号和输入模拟信号，并自动记录ADC的动态参数如SNR、SINAD、SFDR等测试结果。在ADC测试中，会施加一个已知的模拟信号到ADC的输入端，然后测量其数字输出，通过比较输入信号和输出信号之间的差异，可以判断ADC的性能和精度是否符合要求。系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器，系统兼容多种品牌仪器型号，全面降低企业产品测试成本，提高产品测试效率，测试数据智能分析，全面提高企业产品生产质量。快速方案搭建，一键运行测试;
ATE测试程序：ATE测试程序中的public、protected、private类权限
weixin_44246045的博客
01-10 1230
V93000测试程序是基于C++编程，V93000测试编程更偏向专用测试API和相对固定的架构编程。在V93000机台测试程序统称为TM(test method),具体的测试项称为test class，通常它由XXX.cpp和XXXUtil.hpp组成，或者只由cpp构成。在“.cpp”中会对测试项进行定义，因为它基于类，因此它会基于class的语法格式： class 类名{访问权限： 属性； 行为；}； 在测试程序“.cpp”的类定义中最常用的是：protected，在“.hpp”会用到：public
TestPlant，ATE自动测试软件平台框架
junyao1987的博客
05-12 1296
本软件主要是为了编写一种快速实现产品测试系统的软件框架，帮助工程师快速完成测试软件编写，同时让使用者，可以快速维护，并同时可快速扩展功能；适应一些产品多品种、小批量生产过程中，需要快速实现测试台搭建及频繁更改；
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