边界扫描/JTAG

DFT，是可测试性设计。边界扫描测试，是其中的一项，作用是查看连接性。比如测试制造过程中造成的断线等错误情况，从而筛选可靠的芯片。

JTAG，边界扫描测试的一个标准协议。大多边界扫描测试，都是通过JTAG接口实现的。
利用JTAG，原理上是可以访问ASIC内部寄存器的；当然，前提是ASIC内部该寄存器是做了边界扫描测试的。也就是说JTAG，可以实现ASIC系统的某些具体功能。
边界扫描，一般是通过移位寄存器结构实现输入测试数据和输出测试数据，这样可以较少测试引脚。

• scan chain设计原理wangdx_my新浪博客
  http://blog.sina.com.cn/s/blog_5224ab890100zre5.html
• DFT设计之scan chain入门篇 - IC公开课 - 中国电子顶级开发网(EETOP)-电子设计论坛、博客、超人气的电子工程师资料分享平台 - Powered by X-Space
  http://www.eetop.cn/blog/html/99/214199-513421.html
• 边界扫描测试的原理_百度文库
  http://wenku.baidu.com/link?url=dF_gVFxttTy2j8mPsWxrJFdaZDplvXICo1OWz24ARv40vLBET1daFjA4ptjjj9vkwM3XfDyE7D5Il6Yt4qVwBbNwyIJyOHzrJr91fHvazha
• 边界扫描技术图文百度文库
  http://wenku.baidu.com/link?url=4elpIcwEJCtlbxskAQnT6TF_KewrvR7K9NcTHpwOUM8IRhbUBxaD0fgeKyKuKxyHXs1BKr27HA9BiliJ0-quxWotuer6WDPFdIWGKgTC673
• IEEE-JTAG-1149[1].1-2001_图文_百度文库
  http://wenku.baidu.com/link?url=9Gv2fW9EikF3H4rKOHBKVtJz0mRa8icBb4xlPJVKxbS0tzupulA4CEKg3wSFxgQXoh1dQ24z8opPD1Y6TjW3F-7QVU9LUh9bcpsFiK3_cgS