之前使用Thorlabs的SA200扫描式Fabry-Perot干涉仪（以后简称F-P扫描干涉仪），配套其电压控制器SA201测量了实验室的一款可调谐激光器的纵模，型号为FLS-2800，产自EXFO，本来是想拿F-P扫描干涉仪来测量新搭的2um可调谐光纤激光器的纵模，并分析其纵模结构特性，无奈实验因为时间问题没有及时完成，所以就先拿EXFO公司的产品熟悉了下SA200的操作，下面来详细说明一下利用F-P干涉仪测量激光纵模的原理、实验仪器说明以及具体实验步骤。
模式测量方法主要有三种：直接观测法、扫描干涉仪法、和自差法，直接观测法主要是针对横模，而且对于强光和非可见光都不适用，所以这里不赘述，自差法在测量窄线宽激光方面有一定优势，但对于多纵模或者双纵模则无能为力，我了解的也不是很深。所以本文还是强调第二种方法，及扫描干涉仪法，具有最直观的观测效果和最广泛的应用。
1.F-P干涉仪测量纵模原理
F-P干涉仪，学光的应该没有不知道其大名的，作为物理光学这门课中典型的多光束干涉装置，F-P干涉仪是重点中的重点，在《物理光学（梁铨廷版）》122页有讲到，经过一番公式推导，得到:
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