STM实战开发（13）：STM32开发：使用光敏电阻检测光照强度

引言

光照强度的检测是许多嵌入式系统中的重要应用场景，特别是在智能家居、自动化控制、气象监测等领域。光敏电阻（LDR，Light Dependent Resistor）是一种常见的光电传感器，它的电阻值会随着光照强度的变化而变化，因而可以用来测量光照强度。光敏电阻与微控制器结合后，可以精确地反映光照强度的变化。

本文将介绍如何使用STM32微控制器与光敏电阻（LDR）进行光照强度检测。我们将从光敏电阻的基本原理讲起，介绍如何通过STM32的ADC模块读取光敏电阻的模拟信号，并将其转换为光照强度值。文中还将涉及硬件设计、软件实现、常见的性能优化及应用实例等内容，帮助开发者深入了解如何将光敏电阻应用到STM32平台上。

一、光敏电阻概述

1. 光敏电阻的工作原理

光敏电阻（LDR）是一种电阻值受光照强度影响的半导体材料。当光照强度增大时，光敏电阻的电阻值降低；而当光照强度减小时，电阻值则增大。光敏电阻的电阻变化与入射光的强度之间并不是线性关系，而是呈对数型的变化。

LDR通常由硫化镉（CdS）或其他半导体材料构成，材料对不同波长的光有不同的响应特性。一般而言，光照强度越强，光敏电阻的电阻值越低，反之则越高。