测试原理（二）

DC电参数测试

输入电流（IIL/IIH）

IIL测试测量的是输入管脚到VDD的阻抗，IIH测的是的输入到VSS的阻抗（VSS在COMS电路中这是接地，VDD是芯片内部的电源）

测试目的：

符合阻抗要求

测试方法

串行（静态）测试法

IIL测试

（1）先给电源端VDDmax值，同时将所有管脚通过Pin Driver施加VIH，使预处理的为逻辑1实现预处理；

（2）接入DC测试资源连接到管脚，同时驱动低电平输入

（3）测量电流并且比较

注意：（1）IIH的测试在IIL的测试上将预处理的逻辑改为0；

           （2）同时Drive改为1；但是IIH有钳制要求

           （3）注意PMU的延迟，测量时要确认VDD、Vin及IIL/IIH等设置的正确。

优缺点：

串行测试是对每一个管脚进行测试，所以每一个测试管脚与不同管脚之间的具有电压差，所以使管脚之间的漏电流会更加的明显，但是会大大的增加测试的时间。

并行（静态）测试法

拥有Per Pin PMU的ATE支撑进行并行测试，所谓的并行其实就是给每一个管脚单独给电流，再判断是否符合设计；

集体测试法

由单个PMU对所有的管脚进行测试，集体输出管脚逻辑1，测试总电流，再集体输出管脚逻辑0，测试总电流

集体测试对COMS器件的效果比较好，因为COMS器件的阻抗比较高，电流的一般为0，出现问题电流的变化也是很明显的

对于以下情况不适合使用：（1）特定的低阻抗管脚。（2）外接上拉下拉等对电流消耗大的

优点：不用强调Per Pin PMU的结构，同时速度快；但是只适合高阻抗的输入器件，对于出现问题也只能用串行的测试在测试一遍；

输入结构-高阻/上拉/下拉

部分管脚具有上拉和下拉，所以会导致每个管脚的所可以吸收的电流大小并不相同，所以集体测试的方法并不适合用来测试。同时阻抗输入也会影响器件的IDD电流，也取决与每一个输入管脚上输入的管脚

输出扇出

输出扇出指的是一个管脚控制接入多个输出管脚的能力；

TTL电路和COMS电路不一样：

传统的COMS电路一个COMS可以驱动多个COMS输入，只要是将足够

高阻电流（High Impedance Currents，IOZH/IOZL）

IOZL指的是当一个低电平施加在一个有高阻态的输出管脚上，管脚所产生的漏电流（I）；IOZH指的则是给一个高电平，其他的条件不发生改变

IOZL测试的是VDD到管脚的阻抗，IOZH测试的是管脚到GND的阻抗

测试方法：

1.串行/静态测试法

施加VDD，使整个器件都在高阻态的向量，PMU可以以此驱动高低管脚管脚测试电流值；

要保证VDD和VOZ不会出现错误

2.并行测试法

施加VDD，使整个器件都在高阻态的向量，PMU可以以此驱动高低管脚管脚测试电流值；

要保证VDD和VOZ不会出现错误（同样需要Per pin PMU的结构）

注意：（1）集成测试并不适合

故障分析

1.情况1：测试不通过，但是输出的值的大小在与预定值的附近

可能是器件在生产中出现的问题，导致VDD到管脚出现导致的漏电流（可以用精确的电阻进行代替测试调整）

2.情况2：不通过，但是输出的电流远远超出我们的预定值；可能是器件的重大缺陷或者是有杂质在Loadbroad上

输出短路电流（Output short circuit current）（IOS）

解释：输出口位于短路时的电流

目的：可以保证在短路状态下，短路电流可以控制在可以接受的情况下；同时可以控制上升沿的信号速度

方法：（1）预处理：将每一个管脚都设置成输出为逻辑1，

           （2）再施加0V到其中的输出管脚；

           （3）测量电流并且比较大小

同时要避免热切换，器件预处理为1后，电压在VOH和VDD中，一旦PMU驱动短接到器件上，电压差会导致高速电流，这就导致热切换的问题到来；