三坐标CMM尺寸数据分析系统

三坐标CMM尺寸数据分析系统是对三坐标尺寸数量进行质量分析比如常见的spc分析

某工厂生产一种金属零件，其关键质量特性是零件的直径，要求直径的规格范围为 50 ± 0.5 mm（即规格上限 USL = 50.5 mm，规格下限 LSL = 49.5 mm）。生产过程中，每小时抽取 5 个样品进行测量，并记录其平均值和极差（即最大值与最小值的差）。工厂希望通过 SPC 控制图来监控生产过程的稳定性，并及时发现异常情况。

在某一时段内，工厂收集了以下数据（单位：mm）：

小时	样品1	样品2	样品3	样品4	样品5	平均值 (X-bar)	极差 (R)
1	50.1	50.2	50.0	50.3	50.1	50.14	0.3
2	50.0	49.9	50.2	50.1	50.0	50.04	0.3
3	50.2	50.3	50.1	50.4	50.2	50.24	0.3
4	49.8	49.9	50.0	50.1	49.7	49.90	0.4
5	50.5	50.6	50.4	50.7	50.5	50.54	0.3

请问：

1. 如何建立 X-bar 和 R 控制图？

2. 根据控制图判断过程是否处于统计控制状态？

3. 如果发现异常，应采取哪些改进措施？

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解决方案：

步骤 1：建立 X-bar 和 R 控制图

在 SPC 中，X-bar 图用于监控过程均值的稳定性，R 图用于监控过程变异性的稳定性。以下是计算控制图参数的步骤：

1.1 计算 X-bar 图的控制限

X-bar 图的控制限公式如下：

• 中心线（CL）：

  Xˉˉ=∑Xˉk\bar{\bar{X}} = \frac{\sum \bar{X}}{k}\bar{\bar{X}} = \frac{\sum \bar{X}}{k}

• 上控制限（UCL）：

  UCL=Xˉˉ+A2⋅Rˉ\text{UCL} = \bar{\bar{X}} + A_2 \cdot \bar{R}\text{UCL} = \bar{\bar{X}} + A_2 \cdot \bar{R}

• 下控制限（LCL）：

  LCL=Xˉˉ−A2⋅Rˉ\text{LCL} = \bar{\bar{X}} - A_2 \cdot \bar{R}\text{LCL} = \bar{\bar{X}} - A_2 \cdot \bar{R}

其中：

• Xˉˉ\bar{\bar{X}}\bar{\bar{X}}

  是所有样本平均值的平均值。

• Rˉ\bar{R}\bar{R}

  是所有样本极差的平均值。

• A2A_2A_2

  是与样本大小 (n) 相关的常数，查表可得。对于

  n=5n = 5n = 5

  ，

  A2=0.577A_2 = 0.577A_2 = 0.577

  。
• (k) 是样本组数（本例中

  k=5k = 5k = 5

  ）。

根据数据：

• Xˉˉ=50.14+50.04+50.24+49.90+50.545=50.172\bar{\bar{X}} = \frac{50.14 + 50.04 + 50.24 + 49.90 + 50.54}{5} = 50.172\bar{\bar{X}} = \frac{50.14 + 50.04 + 50.24 + 49.90 + 50.54}{5} = 50.172

• Rˉ=0.3+0.3+0.3+0.4+0.35=0.32\bar{R} = \frac{0.3 + 0.3 + 0.3 + 0.4 + 0.3}{5} = 0.32\bar{R} = \frac{0.3 + 0.3 + 0.3 + 0.4 + 0.3}{5} = 0.32

计算 X-bar 图的控制限：

• UCL=50.172+0.577⋅0.32=50.172+0.185=50.357\text{UCL} = 50.172 + 0.577 \cdot 0.32 = 50.172 + 0.185 = 50.357\text{UCL} = 50.172 + 0.577 \cdot 0.32 = 50.172 + 0.185 = 50.357

• LCL=50.172−0.577⋅0.32=50.172−0.185=49.987\text{LCL} = 50.172 - 0.577 \cdot 0.32 = 50.172 - 0.185 = 49.987\text{LCL} = 50.172 - 0.577 \cdot 0.32 = 50.172 - 0.185 = 49.987

1.2 计算 R 图的控制限

R 图的控制限公式如下：

• 中心线（CL）：

  Rˉ\bar{R}\bar{R}

• 上控制限（UCL）：

  UCL=D4⋅Rˉ\text{UCL} = D_4 \cdot \bar{R}\text{UCL} = D_4 \cdot \bar{R}

• 下控制限（LCL）：

  LCL=D3⋅Rˉ\text{LCL} = D_3 \cdot \bar{R}\text{LCL} = D_3 \cdot \bar{R}

其中：

• D3D_3D_3

  和

  D4D_4D_4

  是与样本大小 (n) 相关的常数，查表可得。对于

  n=5n = 5n = 5

  ，

  D3=0D_3 = 0D_3 = 0

  ，

  D4=2.114D_4 = 2.114D_4 = 2.114

  。

计算 R 图的控制限：

• UCL=2.114⋅0.32=0.676\text{UCL} = 2.114 \cdot 0.32 = 0.676\text{UCL} = 2.114 \cdot 0.32 = 0.676

• LCL=0⋅0.32=0\text{LCL} = 0 \cdot 0.32 = 0\text{LCL} = 0 \cdot 0.32 = 0

1.3 绘制控制图

根据计算结果，绘制 X-bar 和 R 控制图如下：

X-bar 图：

• 中心线（CL）= 50.172

• 上控制限（UCL）= 50.357

• 下控制限（LCL）= 49.987

• 绘制数据点：50.14, 50.04, 50.24, 49.90, 50.54

R 图：

• 中心线（CL）= 0.32

• 上控制限（UCL）= 0.676

• 下控制限（LCL）= 0

• 绘制数据点：0.3, 0.3, 0.3, 0.4, 0.3

步骤 2：判断过程是否处于统计控制状态

根据 SPC 的控制图规则，判断过程是否失控需要检查以下常见异常模式：

1. 任一点超出控制限（UCL 或 LCL）。

2. 连续 7 点在中心线同一侧。

3. 连续 7 点递增或递减。

4. 其他非随机模式（如周期性波动）。

2.1 检查 X-bar 图

• 数据点：50.14, 50.04, 50.24, 49.90, 50.54

• 控制限：UCL = 50.357，LCL = 49.987

观察：

• 第 5 个数据点（50.54）超出了 UCL（50.357），表明过程均值发生了异常偏移。

2.2 检查 R 图

• 数据点：0.3, 0.3, 0.3, 0.4, 0.3

• 控制限：UCL = 0.676，LCL = 0

观察：

• 所有数据点均在控制限内，表明过程变异性是稳定的。

2.3 结论

• X-bar 图显示过程均值失控（第 5 个数据点超出 UCL），但 R 图显示过程变异性是稳定的。

• 这表明问题可能出在过程均值的系统性偏移，而不是随机波动。

步骤 3：改进措施

根据分析结果，可以采取以下措施：

1. 调查异常原因：

   • 检查第 5 小时的生产条件，可能的原因包括：

     • 设备调整不当（如机床偏移）。

     • 原材料批次变化。

     • 操作员失误（如测量误差或工艺参数设置错误）。

   • 使用因果图（鱼骨图）或 5W1H 方法分析根本原因。

2. 采取纠正措施：

   • 如果发现设备问题，重新校准设备。

   • 如果发现原材料问题，检查供应商质量或更换批次。

   • 如果发现操作员问题，加强培训或优化操作流程。

3. 持续监控：

   • 在纠正后，继续收集数据并更新控制图，确保过程恢复到稳定状态。

   • 如果失控情况反复发生，考虑重新评估工艺能力（Cp 和 Cpk），以确定是否需要改进设备或工艺设计。

4. 预防措施：

   • 引入预防性维护计划，定期检查设备。

   • 实施操作员标准化作业指导书（SOP），减少人为误差。

   • 考虑引入自动化检测系统，减少测量误差。