适用范围:
测试方法适用于所有芯片型号,用于测试DAC模块的INL/DNL参数。
INL(积分非线性):DAC的INL指在失调 、增益误差被校正后,实际的传输曲线偏离理想中心线的程度,即:
$$INL=(V_{实际} -V_{理想})/1LSB$$
DNL(微分非线性):在 DAC 实际传输曲线中,每个输出代码对应的输入电压宽度称为码宽,DNL指实际码宽电压与理想码宽电压 (LSB: Least Significant Bit) 之差,即:
$$DNL=(V_{实际码宽}-V_{理想码宽})/V_{理想码宽} (单位:LSB)$$
测试原理:
通过一个精度高于待测DAC的ADC采样待测DAC的输出值,DAC均匀输出三角波,通过ADC采样得到的码值计算DAC的INL\DNL,ADC采样码值计算方法详见ADC INL&DNL测试方法和实例。
测试工具:
是德E36106B(直流电源),高精度ADC(16位)