TEM测试支撑方式及栅网的选择

在做透射电子显微镜（TEM测试）时，科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，大多数同学对tem测试不是很理解，针对此，科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们；

通常自支撑样品是通过块体材料的减薄来制取的，往往一种材料也可以是复合材料经过加工，形成3.05 mm的圆片，其最适合分析的地方一般是样品最薄的地方，而其他样品则是放在微栅或者铜环上。关于减薄我们将在FIB一节讲解，首先讨论不同类型的支撑网，根据网格支撑材料的不同可分为铜网、钼网和镍网。使用不同材料的网格主要是为了避开能谱扫描中的干扰信号，如制备含铜的纳米颗粒时，使用钼或者镍网，可以有效避免支架含铜对特征X射线信号的干扰。

通常网格支架上铺有一层碳膜，依据碳膜厚度可衍生出普通碳膜网（15-30 nm）、薄纯碳膜（7-10 nm）、超薄碳膜网（3-5 nm）及单层石墨烯碳膜网（<1 nm）。之所以需要采用更薄的碳膜，主要是为了增加量子点之类的衬度，如拍摄碳量子点，尤其是5 nm以下的碳量子点。如材料是片状可以使用微栅网，其形貌是在碳膜上具有大量的孔，这些孔下即是真空，因此当片状材料架在孔上的时候可以得到极好的衬度。此外，还有一种方华支持膜，其化学成分是聚乙烯醇缩甲醛，可溶于二氯乙烷或三氯甲烷溶液，所形成的膜，强度高，透过率好，可支持多种样品观察。是承载超薄切片的理想材料，因其导电性能不好，在电子束照射下，会因高温或电荷积累，引起局部受热碳化，产生局部黑斑，样品漂移，甚至使膜破碎，损伤被观察样品。通常在100 kV电镜上使用较多。

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