[蓝桥杯][基础练习]芯片测试

时间限制: 1Sec 内存限制: 128MB

题目描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。
输出
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入
3

1 0 1

0 1 0

1 0 1
样例输出
1 3

分析：题目已知好芯片比坏芯片多是解题关键，遍历每一行或者每一列，因为好芯片比坏芯片多，所以，每一个芯片与其它芯片n个比较时，只要测试的结果大于或等于n/2 就能证明这是好芯片，然后把芯片所在位置输出来即可。

#include<stdio.h>
int num[21][21]; 
int main(){
	int n;
	scanf("%d",&n);
	for(int i=1;i<=n;i++)
	for(int j=1;j<=n;j++)
	{
		scanf("%d",&num[i][j]);
	}
	for(int j=1;j<=n;j++){
		int len=0; 
		for(int i=1;i<=n;i++)
		{
			if(num[i][j]==1)
			len++;
		}
		if(len>n/2)
		printf("%d ",j);
	}
	return 0;
}