基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

注：//    这个題其实关键的解题就一个，只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数 就可以判断这个是一个好芯片。为什么呢？因为题目中说了，  其中坏的芯片的判断是随即的要不是1要不是0，所以对一个好的芯片（被检测）的判断而言，  用坏的去判断（检测方）这个好的，显示1和显示0的概率都是50%，  而如果还有一个好的芯片（检测方）也去判断这个好的芯片（被检测）， 这个结果一定是1，所以这个显示1的总数一定会大于显示0的个数。

#include <stdio.h>
int main(){
	int n;
	scanf("%d",&n);
	int num[30][30];
	for(int i=0;i<n;i++){//输入 
		for(int j=0;j<n;j++){
			scanf("%d",&num[i][j]);
		}
	}
	
	int sum[n];
	for(int i=0;i<n;i++){//第i快测试第j块 j的结果 
		for(int j=0;j<n;j++){
			if(i!=j&&num[i][j]==1){
				sum[j]++;
			}
		}
	}
	
	for(int i=0;i<n;i++){//如果概率大于等于一半就满足条件 
		if(sum[i]>=n/2){
			printf("%d ",i+1);
		}
	} 
	return 0;
}