Flash闪存颗粒和SSD知识深度解析

本文从晶圆制造开始,详细介绍了Flash闪存的生产过程,包括Wafer Fabrication、NAND Flash Wafer、Die制造,以及Ink Die测试。探讨了NAND Flash的封装技术如TSOP、FBGA、LGA,以及Stack Die技术。还讨论了SLC、MLC和TLC的不同特性和使用寿命,并提到了坏块管理和晶圆制程工艺的历史发展。
摘要由CSDN通过智能技术生成

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        谈闪存,须从Wafer开始。Wafer即晶圆,是半导体组件“晶片”或“芯片”的基材,从沙子里面高温拉伸生长出来的高纯度硅晶体柱(Crystal Ingot)上切下来的圆形薄片称为“晶圆”。采用精密“光罩”通过感光制程得到所需的“光阻”,再对硅材进行精密的蚀刻凹槽,继续以金属真空蒸着制程,于是在各自独立的“晶粒”(Die)上完成其各种微型组件及微细线路。对晶圆背面则还需另行蒸着上黄金层,以做为晶粒固着(Die Attach) 于脚架上的用途。


      以上流程称为Wafer Fabrication。早期在小集成电路时代,每一个6吋的晶圆上制作数以千计的晶粒,现在次微米线宽的大型VLSI,每一个8吋的晶圆上也只能完成一两百个大型芯片。我们NAND Flash的Wafer,目前主要采用8寸和12寸晶圆,一片晶圆上也只能做出一两百颗NAND Flash芯片来。


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NAND Flash Wafer

 

        Wafer的制造虽动辄投资数百亿,但却是所有电子工业的基础。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,其纯度高达99.99%以上。晶圆制造厂再将此多晶硅融解,再在融液里种入籽晶,然后将其慢慢拉出,以形成圆柱状的单晶硅晶棒,由于硅晶棒是由一颗晶面取向确定的籽晶在熔融态的硅原料中逐渐生成,此过程称为“长晶”。硅晶棒再经过切段,滚磨,切片,倒角,抛光,激光刻,封装后,即成为集成电路工厂的基本原料——硅晶圆片,这就是“晶圆”。


      下图是NAND Flash生产简要流程:


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       Die 就是芯片未封装前的晶粒,是从硅晶圆(Wafer)上用激光切割而成的小片(Die)。每一个Die就是一个独立的功能芯片,它无数个晶体管电路组成,但最终将被作为一个单位而被封装起来成为我们常见的闪存颗粒,CPU等常见芯片。


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什么是ink Die


      在晶圆制造过程中,会对Wafer中的每个Die进行严格测试,通过测试的Die,就是Good Die,未通过测试的即为Ink Die。这个测试过程完成后,会出一张Mapping图,在Mapping里面会用颜色标记出不良的Die,故称Ink Die。


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Flash芯片封装分类


      目前NAND Flash封装方式多采取TSOP、FBGA与LGA等方式,由于受到终端电子产品转向轻薄短小的趋势影响,因而缩小体积与低成本的封装方式成为NAND Flash封装发展的主流趋势。


      TSOP: (Thin smaller outline package)封装技术,为目前最广泛使用于NAND Flash的封装技术,首先先在芯片的周围做出引脚,采用SMT技术(表面安装技术)直接附着在PCB板的表面。TSOP封装时,寄生参数减小,因而适合高频的相关应用,操作方便,可靠性与成品率高ÿ

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