AFM原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种高分辨率表面形貌和物理性质测量技术,能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。在进行AFM测试前,需要对样品进行制备,以保证测试的准确性和有效性。
一、样品制备要求:
样品表面应该是干净、平整和均匀的。任何污染物或不均匀
AFM原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种高分辨率表面形貌和物理性质测量技术,能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。在进行AFM测试前,需要对样品进行制备,以保证测试的准确性和有效性。
一、样品制备要求:
样品表面应该是干净、平整和均匀的。任何污染物或不均匀