【原子力显微镜AFM测试科普】AFM工作原理、AFM成像模式、适用样品、送样须知、常见问题、应用案例深度解密，干货满满！...

撰文排版：刘佳
审核指导：肖俊灵

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原子力显微镜（AFM，Atomic Force Microscope）是一种能够以原子级分辨率成像的显微镜。它是扫描探针显微镜（SPM）的一种类型，于1986年被发明，主要用于在纳米尺度上研究材料表面的性质。

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AFM工作原理

1.探针和悬臂：AFM使用一个非常尖锐的探针（tip）位于一个悬臂（cantilever）的末端。这个探针可以非常接近样品表面，甚至达到原子级的接近。

2.力的检测：当探针扫描样品表面时，探针与样品表面之间的相互作用力（如范德华力、静电力、磁力等）会导致悬臂发生弯曲或振动。这些微小的悬臂运动通过一个高灵敏度的传感器（通常是激光反射检测系统）来检测。

3.激光和光电探测器：一个激光束被照射到悬臂的背面，反射回的激光束会被一个位置敏感的光电探测器捕捉。当悬臂因为与样品的相互作用而移动时，反射激光的方向也会改变，这种变化被用来测量悬臂的运动。

4.反馈机制和成像：AFM通常配备有一个反馈系统，用来控制探针与样品表面的距离，保持探针与样品之间的相互作用力在一定范围内。通过调整探针的位置，可以获得样品表面的高度信息，从而生成样品表面的三维图像。

5.操作模式：AFM有多种操作模式，包括接触模式（探针直接接触样品表面）、非接触模式（探针不接触但非常接近样品表面）和敲击模式（探针轻敲样品表面）。这些模式适用于不同类型的样品和分析需求。

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AFM成像模式

原子力显微镜（AFM）的成像模式主要分为三种：接触模式（Contact Mode）、非接触模式（Non-contact Mode）和敲击模式（Tapping Mode）。每种模式都有其独特的操作原理和适用场景，以下是这些模式的详细解释：

1. 接触模式&