afm测试过程中软件卡住怎么办,原子力显微镜测试过程中遇到的假象

当你在进行AFM测试时，假如遇到了上面这幅图，是不是突然有种“哇塞，好规整的图案！”的感觉？

不要高兴的太早哦！因为——你看到的可能都是假象，马上就要凉凉，不要故作不痛不痒不牵强······扯远了，这样的图很有可能是针尖污染造成的假象。那么，如何判断哪些图是真实信息，哪些图是AFM假象呢？

AFM测试中常见的假象有这么几种情况：

一、针尖半径大于样品引起的假象

当样品特征比针尖更加尖锐时，假象就会出现，此时的解决办法是更换具有更小曲率半径的探针。

二、针尖被污染或磨损引起的假象

正如开篇的图片所示，当针尖被污染或严重磨损时，此时得到的图像大片都是规整的污染物或磨钝的针尖的图像。判断该类假象的一个比较好的办法是改变scan angle，假如scan Scan angle 调整到90°后，若图像没有变化则确定为假象。此时的解决办法有两种：1.提高扫描速度，看是否能将污染物“甩走”(探针被污染的情况下)；2.更换探针。

三、样品表面被污染引起的假象

当扫描图片中有大片模糊不清时，极有可能是样品表面附着有污染物造成的。当针尖从样品表面扫过时，假如污染物附着不牢固，便会随针尖移动，造成扫描区域出现大片的模糊状况。此时需要更换扫描区域，甚至需要更换样品。

因此，我们可以从选择具有合适曲率半径的探针、保持测试室及样品表面的洁净，及时更换受损探针做起，避免假象的出现，提高成像的质量。