硬件设计中接触电阻对测试的影响

        本文是一篇工作笔记，是我对近期一段时间工作内容的总结。

1、文章背景

        简要介绍下文章背景，作者工作于一家IC测试公司，公司需要对LTM4622这一款电源模组做芯片测试。这里附上立创商城的IC原理图和封装、以及ADI官方的数据手册。

 图1 LTM4622原理图和封装

数据手册：LTM4622 (Rev. I) (analog.com)

        这里简单概括一下LTM4622：
        LTM4622是一款3.6-20V输入，支持两路2.5A输出的微型DCDC电源模块，只需要给输入管脚供电、接入反馈电阻就可以得到输出。使用起来很简单。

2、测试背景

        为了方便测试和不影响后续使用，IC测试一般不会将器件焊接到PCB上，通常使用测试座（Socket）与器件进行开尔文连接。Socket的结构与下图类似：

图2 测试Socket图示

        Socket通过镀金的弹簧针连接芯片的管脚和PCB，在这个过程中会产生接触电阻。

        我们把LTM4622芯片简化为一个三端稳压器，只需要Vin、GND、Vout即可工作，在不考虑接触电阻时测试电路简化为如图：

图3 忽略接触电阻时简化的测试电路

        该简化电路中，输入Vin和GND、输出Vout和GND分别构成回路，当然并不是短路，这里我们接到了测试机台的源上，输入端的源提供输入电压和电流、输出端的源可以在一定的负载电流下测量输出电压，而GND连接测试机台的AGND。

        上述电路在输出电流较小时并不影响测试结果，而当输出电流变大时，由于接触电阻的影响我们将会从测试机台内读到错误的输出电压，这是为什么呢？

        我们接下来看考虑接触阻抗时测试电路的实际结构：

        其中黑色框内为LTM4622芯片内结构，外部空电阻为接触电阻。将LTM4622看作为一个电流节点，由于输入、输出存在压差，输入输出功率相等（不考虑器件损耗），所以输入输出电流不相等。由基尔霍夫电流定律，当输出端源拉取电流较小时，输入端供给的电流较小，同时AGND上电流较小；当输出电流增大时，流入器件的电流增大，AGND管脚电流增大，因此，接触电阻上产生电压，AGND管脚为参考地，电平不会变化，因此由于AGND管脚电流是流入器件（基尔霍夫电流定律）的，所以接触电阻靠近器件端的一侧相对于AGND为负电位，实际测试中对AGND电压约为120mV。

        LTM4622输出电压的计算公式为，应数据手册要求，输出电压1.5V，阻值为40.2kΩ，但值得注意的是，这里是指的是输出端与器件GND之间的电压，如之前我们分析的，器件GND管脚的电压由于大电流下接触电阻的影响，FB_GND和GND电位以及变为-80mV，所以输出端对AGND测压（注意是AGND，因为测试机台测量的参考点是AGND）已经不是器件的真实输出电压。

        另外，我们应知道，大电流情况下，AGND管脚的电流主要从GND流入器件，而FB_GND虽然与GND相连，但其只作为内部电压基准的参考地，电流极小，所以可以忽略FB_GND管脚接触电阻的影响，电路如图：

        因此，由于Vout对GND的输出仍然保持1.5V，而由于GND管脚对于AGND存在-120mV的电位差，因此我们在Vout输出端只能测到1.38V左右的电压，这对于在测试中计算电流调整率和不同电流条件下的输出电压是致命的，如LTM4622手册中指出1.5V情况下电流调整率0-2.5A时典型值0.2%、最大值1%，也就是说其在1.5V输出时，电流在0A和1.5A时输出电压变化不会超过15mV，而我们不考虑接触电阻时测到的1.38V左右显然不符合条件，因此并不是器件坏了或者不满足设计要求，只是我们测试过程需要完善。

3、做电压补偿

        有了先前分析的结论，我们在计算LTM4622的输出电压时，除了测量得到器件的输出外，还应取测量器件GND管脚对地的电位，并用器件输出端的电位减去GND管脚的电位，从而得到器件准确的输出。

4、拓展思考

        我们类比下接触电阻和电源内阻，假如电源输出电压为3.3V，输出阻抗很低，那么接入用电器件时，电源的电压几乎完全加在用电器件两端。而假如我们所使用的电源具有一点的输出阻抗，用电设备在电流较小时，电源内阻分压较低，器件仍然得到3.3V接近的电压，可以正常工作；当需求电流增大时，由于电源内阻分压，电源的输出已经明显低于3.3V，器件是否已经无法正常工作。