STM32F103 内部片上flash读写操作实现掉电保存数据(附代码)

一:前言

        有些项目中,需要实现保存参数设置,掉电后,下次开机时无需重复设置。当数据量小的时候,可以通过内部flash实现。本文主要介绍STM32内部Flash读写方式的功能函数怎样编写。

二: 准备工作

        首先,需要对该芯片的flash有基本了解,比如大小? 地址? 可以通过芯片手册了解。以STM32F103C8 为例。参考: STM32F103C8 数据手册   以及:F1x 参考手册  

找到其中Memory map 章节,可以看到flash每一页有1K bytes 。

那如何知道还有多少空闲flash能用呢? 以STM32Cube IDE为例,可通过Build Analyzer查看。

如下图,可以看到还有10几K可以使用。 

三: 代码设计

从STM32 官方github上找参考代码:

STM32F1 FLASH 例程

A. 读操作

  uint32_t flash_read ( uint32_t address, uint8_t* pdata, uint32_t size )
  {
  	uint32_t read_index = 0;
  	uint8_t  value;
  	uint32_t start_addr;
  	uint32_t end_addr;



  	if ( !pdata || size < 1 )
  	{
  		return 0;//FLASH_PARAM_ERROR;
  	}

  //    start_addr = address+FLASH_BASE_ADDRESS;
  	start_addr = address;
  	end_addr = start_addr + size;
  	if ( start_addr < FLASH_USER_START_ADDR || end_addr > FLASH_USER_END_ADDR )
  	{
  		return 0;//FLASH_ADDR_ERROR;
  	}


  	read_index = 0;
  	while ( read_index < size )
  	{
  		value = * ( __IO uint8_t* ) start_addr;
  		start_addr = start_addr + 1;
  		* ( pdata + read_index ) = value;
  		read_index++;
  	}
  	return read_index;
  }

B.擦除操作

FLASH_ERROR_CODE_E flash_erase( uint32_t start_addr,uint32_t end_addr)
  {
  	static FLASH_EraseInitTypeDef EraseInitStruct;
  	uint32_t PageError = 0;

  	//printf("start_addr = %lx,end_addr=%lx,FLASH_USER_START_ADDR = %lx,FLASH_USER_END_ADDR = %lx\r\n",start_addr,end_addr,FLASH_USER_START_ADDR,FLASH_USER_END_ADDR);
  	if((start_addr > end_addr) || (start_addr < FLASH_USER_START_ADDR) || (end_addr > FLASH_USER_END_ADDR))
  	{
  		return FLASH_ADDR_ERROR;
  	}
  	/* Unlock the Flash to enable the flash control register access *************/
    HAL_FLASH_Unlock();

  	/* Fill EraseInit structure*/
    EraseInitStruct.TypeErase = FLASH_TYPEERASE_PAGES;
    EraseInitStruct.PageAddress = start_addr;
    EraseInitStruct.NbPages = (end_addr - start_addr+(FLASH_PAGE_SIZE-1))/FLASH_PAGE_SIZE;
  	if (HAL_FLASHEx_Erase(&EraseInitStruct, &PageError) != HAL_OK)
    {
  		HAL_FLASH_Lock();
  		return FLASH_ERASE_ERROR;
  	}
  	/* Lock the Flash to disable the flash control register access (recommended
       to protect the FLASH memory against possible unwanted operation) *********/
    HAL_FLASH_Lock();
  	return FLASH_SUCCESS;
  }

C.写操作

FLASH_ERROR_CODE_E flash_write(uint32_t address, const uint8_t* pdata, uint32_t size)
  {
  	HAL_StatusTypeDef result = HAL_ERROR;

  	uint32_t end_addr = 0;
  	uint32_t start_addr;
  //	uint16_t page_num;
  	uint32_t word_num;
  	uint8_t  half_word_num;
  	uint8_t  byte_num;
  	uint32_t write_index = 0;

  	//parameter check
  	if((!pdata) || (size<1))
  	{
  		return FLASH_PARAM_ERROR;
  	}

  //	page_num = (size % FLASH_PAGE_SIZE)?(size / FLASH_PAGE_SIZE+1):(size / FLASH_PAGE_SIZE);

  	word_num = (size >> 2);             // size/4
  	half_word_num = (size % 4)>>1;      // (size%4)>>1
  	byte_num = (size % 2);              // size % 2

  	start_addr = address;
  	end_addr = ( start_addr + size );
  	if ( start_addr < FLASH_USER_START_ADDR || end_addr > FLASH_USER_END_ADDR )
  	{
  		return FLASH_ADDR_ERROR;
  	}

  	/* Unlock the Flash to enable the flash control register access *************/
    HAL_FLASH_Unlock();
  	write_index = 0;
  	while(write_index < word_num)
  	{
  		result = HAL_FLASH_Program(FLASH_TYPEPROGRAM_WORD, start_addr, BUILD_UINT32 ( * ( pdata ), * ( pdata + 1 ), * ( pdata + 2 ), * ( pdata + 3 ) ));
  		if(HAL_OK == result)
  		{
  			start_addr = start_addr + 4;
  			pdata = pdata + 4;
  			write_index++;
  		}
  		else
  		{
  			return FLASH_WRITE_WORD_ERROR;
  		}
  	}
  	write_index = 0;
  	while(write_index < half_word_num)
  	{
  		result = HAL_FLASH_Program(FLASH_TYPEPROGRAM_HALFWORD,start_addr,BUILD_UINT16 ( * ( pdata ), * ( pdata + 1 ) ));
  		if ( HAL_OK == result )
  		{
  			start_addr = start_addr + 2;
  			pdata = pdata + 2;
  			write_index++;
  		}
  		else
  		{
  			return FLASH_WRITE_HALF_WORD_ERROR;
  		}
  	}
  	write_index = 0;
  	while(write_index < byte_num)
  	{
  		result = HAL_FLASH_Program(FLASH_TYPEPROGRAM_HALFWORD,start_addr,BUILD_UINT16 ( * ( pdata ), 0xFFFF ));
  		if ( HAL_OK == result )
  		{
  			start_addr = start_addr + 2;
  			pdata = pdata + 2;
  			write_index++;
  		}
  		else
  		{
  			return FLASH_WRITE_BYTE_ERROR;
  		}
  	}
  	/* Lock the Flash to disable the flash control register access (recommended
       to protect the FLASH memory against possible unwanted operation) *********/
    HAL_FLASH_Lock();
  	return FLASH_SUCCESS;
  }
以上代码参考:stm32f0_flash/STM32/STM32F0/STM32F0_CUBE_FLASH at master · GreatWall51/stm32f0_flash · GitHub

四: 结果验证

在STM32CubeIDE debug 中memory 项输入地址查看:

五:注意事项

  1.  写Flash时,需注意先要擦除;
  2.  地址要输入正确;

### 回答1: STM32F103C8T6是一款基于ARM Cortex-M3内核的微控制器,具有内置的Flash存储器。这款芯片内置了64KB的Flash存储器,可以用于存储程序代码数据。 在STM32F103C8T6上进行内部Flash读写操作,首先需要初始化Flash模块。通过设置Flash时钟源、解锁Flash接口和使能Flash预取功能等步骤,可以确保正确读写Flash。 读取Flash存储器的数据,可以通过编程方式访问存储器地址并将数据读取到合适的数据类型中。读取过程需要注意数据的字节对齐、类型转换和读取大小等问题,以确保数据读取的正确性和准确性。 写入Flash存储器的数据,需要使用特定的Flash写函数。在编写数据之前,需要确保Flash存储器的页已经被擦除。然后,使用写入函数将数据写入指定地址的Flash存储器中。写操作完成后,需要进行数据校验或读取校验,以确保数据的正确写入。 注意,对于STM32F103C8T6的Flash存储器,写入操作只能在已经擦除的页中进行。单次写入操作的字节长度应小于等于Flash存储器的页大小。如果需要写入超过一页的数据,需要以页为单位进行分页写入,同时注意页边界对齐和数据的正确传输。 总的来说,STM32F103C8T6的内部Flash读写操作需要正确的初始化和合适的编程方法。合理管理内部Flash存储器的读写,可以实现数据存储和程序更新等功能。 ### 回答2: STM32F103C8T6是一款32位ARM Cortex-M3内核的微控制器,内置了64KB的Flash存储器。下面将通过以下几个方面来回答stm32f103c8t6内部Flash的读写。 首先,内部Flash的读取。在STM32的开发环境中,我们可以使用标准库函数或者相关的驱动程序来读取内部Flash。我们可以使用函数如`HAL_FLASH_Read()`来读取指定地址的数据。我们需要提供要读取的地址和要读取的变量的指针。函数将会将指定地址的数据复制到指定的变量中。 其次,内部Flash的写入。为了写入内部Flash,我们需要解锁Flash并擦除要写入的扇区。可以使用函数如`HAL_FLASH_Unlock()`解锁Flash。然后,使用函数如`FLASH_Erase_Sector()`来擦除指定的Flash扇区。接下来,我们可以使用函数如`HAL_FLASH_Program()`来对Flash进行编程。将要写入的数据和要写入的地址传递给该函数,函数将会将数据编程到指定的地址。 需要注意的是,内部Flash的写入和擦除操作会消耗一定的时间。为了确保Flash操作的完整性和正确性,需要在进行写入和擦除操作时禁用全局中断。另外,需要注意在编程Flash之前将Flash与其他外设(如闪存存储器或外部RAM)断开连接,以防止写入数据和相关的操作引起问题。 最后,我们需要注意到内部Flash的寿命。每个Flash单元具备一定的擦除次数和编程次数。因此,在设计中需要谨慎使用Flash的擦除和写入操作。我们可以通过参考产品手册和数据手册了解具体Flash的寿命,并根据实际需求来合理安排Flash的使用。 总结起来,STM32F103C8T6内部Flash读写操作可以使用相关的驱动程序或标准库函数来完成。读取操作可以通过提供要读取的地址和变量的指针来完成,而写入操作需要先解锁Flash、擦除指定的扇区,然后再编程指定的地址。在进行Flash操作时需要注意Flash的寿命和正确的编程步骤。 ### 回答3: STM32F103C8T6是一款基于ARM Cortex-M3内核的高性能微控制器。它内部集成了64KB的闪存(flash),可以用于存储程序代码数据。 在STM32F103C8T6上进行内部flash读写操作,需要遵循以下步骤: 1. 配置内部flash:在进行读写操作之前,需要将flash解锁并配置为编程状态。通过对FLASH_CR寄存器写入相应的位值,可以进行解锁和配置操作。 2. 擦除flash扇区:在进行写操作之前,需要先擦除相应的flash扇区。每个flash扇区的大小一般为1KB或2KB,在擦除操作中,需要注意只能擦除整个扇区,不能对单个字节进行操作。 3. 写入数据:擦除flash扇区后,可以将数据写入flash。通过对FLASH_AR寄存器写入要写入的数据值,可以实现数据写入flash。 4. 数据验证:在完成写入操作后,可以进行数据验证。通过将写入的数据flash中对应位置的数据进行比较,可以确保写入操作的准确性。 需要注意的是,内部flash有一定的寿命,仅能进行有限次数的擦除和写入操作。因此,在进行内部flash读写操作时,需要合理规划擦除和写入的次数,以提高flash的使用寿命。 总结起来,STM32F103C8T6的内部flash读写操作需要先配置flash,然后擦除相应扇区,然后写入数据,最后进行数据验证。需要注意合理规划擦除和写入的次数,以延长flash的使用寿命。
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