STM32F103ZET6利用DAC产生噪声

下面是当时我实现该需求的具体思路，基本上以库函数为基础，再深层次的研究并未考虑。

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所使用的库

STM32F103ZET6 库函数版本

参考资料

STM32中文参考手册_V10.pdf ->12.3.8 噪声产生（点我下载相关资料）

整体思路

定时器5自动重装载值，利用其更新事件触发 DAC，DAC 通道2输出噪声。

具体思路（使用DAC通道2输出噪声）

1. 通过阅读，有以下关键词：
   WAVE[1:0]位
DAC_CR寄存器的MAMPx[3:0]位
WAVEx[1:0]
DAC_CR寄存器的TENx位
2. 在 PDF 中查找 WAVEx[1:0]，并向下查询，可以发现如下信息
   
   这两者不同点在于：
   12.4.2 说两个 DAC 通道使用相同的 LSFR 屏蔽值，从而产生幅度相等的噪声；
   12.4.3 说两个 DAC 通道使用不同的 LSFR 屏蔽值，从而产生幅度不等的噪声。
   我下面以单个 DAC 通道输出噪声为例，进行说明。
3. 首先设置 DAC 通道的触发使能位 TEN2 为 1。
   在 PDF 中搜索 TEN1，得到下图，说明 TENx 在 DAC_CR 寄存器中。
   
   打开库函数例程，找到 DAC 实验，找到 DAC 初始化函数。红框中的注释提示，结构体成员 DAC_Trigger 的值包含了对 TENx 的设置。
   

上图蓝框中的函数是对 DAC_InitType 结构体中各成员的初始化，即是对 DAC 各寄存器的相关位置的初始化。
打开上述函数定义，得下图，即可验证“DAC_Trigger 的值包含了对 TENx 的设置”的观点。

也就是说，设置了 DAC 触发源，就同时设置了 TENx 位，所以不用担心漏掉对 TENx 位的定义。
4. 通过设置 TSEL2[2:0] 位为不同值，配置 DAC 通道2的触发源。
DAC 实验例程中全工程搜索 TSEL（不全字匹配），得知对 DAC_CR 寄存器的 TSEL 位赋值，与 DAC_Trigger 有关。

在自定义 DAC 初始化函数中，如下图红框所示，设置 DAC 的触发事件是定时器5。

5. 在 DAC_CR 寄存器中，设置 DAC 通道2的 WAVE2[1:0] 位为 01
   
   在 DAC 例程中搜索 WAVE，如下图，则需要改 DAC_WaveGeneration 的值。
   
   在自定义 DAC 初始化函数中，设置 DAC_WaveGeneration 的值为 DAC_WaveGeneration_Noise
6. 设 MAMP2[3:0] 为特定的 LFSR 屏蔽值，从而控制噪声的幅度。
   
   在 DAC 例程中搜索 MAMP，如下图所示，需要设置 DAC_LFSRUnmask_TriangleAmplitude 的值。
   
   在自定义 DAC 初始化函数中，设置该参数的值。为了使结果更显眼，我选择了最大的值。
   
7. DAC 的其他设置
   
8. 关闭定时器5的中断
   
9. 设置 TIM5 通道1的更新事件触发 DAC 产生噪声（可以参考 PWM 输出实验例程）
   

波形结果

改变示波器的视野，即可得到近似于噪声的波形。

注意

在 STM32F103ZET6英文版芯片手册 中，搜索 DAC2，得到输出引脚是 PA5

应用

用 STM32 实现连续信号和离散信号的傅里叶变换

工程下载

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