STM32内部ADC测量时产生噪声的原因与消除的方法

首先让我们来看一张实际项目过程中,测试发现的问题:

在这里插入图片描述

每隔1ms 就会起来一个信号,这个信号大概是250ns。

我所使用的芯片是 STM32F103RCT6.使用内部ADC测量电压,采用定时器触发采样,每隔1ms触发采样一次。经过分析初步分析,是由于软件触发内部ADC采样的时候引起的噪声信号,

为了消除该信号,查阅相关文档,在 【AN2834应用笔记-如何在STM32微控制器中
获得最佳ADC精度】中的得知:

在这里插入图片描述

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消除噪声的解决方法是,在ADC的引脚添加一个电容,用于消除噪声,由于我的电路图中并没有添加这个电容:

在这里插入图片描述

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该引脚直接连接到了MCU中,并未添加电容进行滤波消除抗干扰,所以才导致上述问题,修改后,正常!

放一个RC滤波更好

PD就是光电二极管。


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