显微透反射率检测仪

光学器件的透反射率是评价光学器件的一个重要参数。在各类光学系统设计过程中，由于系统对于光学器件的透反射率要求不同，有必要对光学器件的透反射率进行精准地测量。常用的测量方法或专用仪器对于光学器件透反射率的测量精度普遍局限在0.1%~0.5%的水平。

通常测量光学器件透反射率的方法可分为光强测量法和双光束差动法两大类，此外还有基于谐振腔特性测试法等。这些方法在实际测量过程中要么不能完全消除光源功率波动对实验结果的影响，使得测量精度不够高，误差较大；要么测量条件有限制，不能对某些特定条件下的光学器件进行透反射率的测量。可以使用景颐光电生产的基于声光调制的光学器件透反射率测量系统，其能够从输出光源方面出发解决测量系统对光学器件的透反射率测量精度不高的技术问题。

景颐显微光电透反射率系统适用于不同波长激光器的激光功率控制，能够长时间稳定工作，多次重新搭建系统均得到了输出激光功率稳定度优于0.5%/h的控制效果。显微透反射率检测仪可精确测量目前分光光度计无法测量的微小、超薄、弧面样品的光谱透反射率，不会与样品背面的反射光产生干涉。是最适合测量曲面透反射率、镀膜评价、微小部品的透反射率测定系统；实现非破坏性测量最佳方案。 

整个系统由于在光路控制室中设置有声光调制器，接收、反馈、控制模块处理后经过声光驱动器输出的超声波信号，能够实时调节激光功率，使得测量光路的 激光信号为功率稳定度高的激光信号，稳定度提高至0. 05% / h，有效减少了光源功率的波动，与现有技术直接使用激光光源作为测量光源相比，有效提高系统的测量精度。由于在反馈控制模块 能够接收并实时显示透射激光信号的功率值，增强了系统的可读性，并且可以根据不同的待测光学器件对测量激光功率的不同要求，来设定相应 的透射激光信号的功率值，增加了系统的适用性。 并且该系统的前端激光功率稳定部分又可以作为双光路测量法的稳定光源，可以辅助进一步提高双光路测量法的测量精度。总体来说，该系统在光学器件透反射率的测试与标定等方面上有着广泛且重要的应用价值。