基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

 

 

看题要认真的看。。。不然很耽误时间

 

此题只需要求出1和0那个次数出现的最多即可

 

#include<iostream>
using namespace std;
int s[20][20];
int main()
{
    int a[] = {0};
    int n, x;
    cin >> n;
    for(int i=0; i<n; i++){
        for(int j=0; j<n; j++){
            scanf("%d", &x);
            s[i][j] = x;
            a[x]++;
        }
    }
    if(a[0] > a[1])
    {
        for(int i=0; i<n; i++)
        {
            if(s[0][i] == 0)
                cout << i+1 << " ";
        }
    }
    else

        for(int i=0; i<n; i++)
        {
            if(s[0][i] == 1)
                cout << i+1 << " ";
        }
    return 0;
}