STM32F407 模拟IIC AT24C16出坑记录

事情经过：有个项目一个模拟IIC上挂了3个外设，其中一个为AT24C02,模拟IIC用的是原子的。这种模式下使用完全没有问题，直到项目需要更换AT24C16。。。第一次找了两个供应商打样了一批AT24C16的IC卡，直接替换没有问题，认为方案替换没有问题。问题在于，当供应商批量供货的时候，懵了，全部不能读写，但是这些卡在另外的（程序一样就是主控芯片和电路不一样）一个读卡设备上却是可以的。

分析过程：

一、供应商确认前后两批AT24C16的卡都是同一个型号，就是批次不一样。？？？批次出问题了？但为什么同样程序的另外的卡设备可以读，是这个读卡设备的电路更稳定？那好，把不能读的设备电路改成可以读的设备一样，懵。。。 也是不行。这时怀疑的方向是这两个设备的主控芯片不一样，模拟IIC的IO初始化方式会不会不一样和是不是IIC挂的设备太多导致的。

二、基于上面一，脱离自己的产品，用原子的F407开发板试，把板载的AT24C02焊掉，把IIC飞行连接第一批AT24C16和批量的AT24C16，懵。。。 第一批的依旧可以，批量的依旧不行。。。。

陷入深深的迷惑中。。。，上逻辑分析仪、示波器、看芯片资料、问度娘。。。。反反复复的试，结果得出如下魔幻解决方案：

1、SDA SCL IO口要分开初始化 而且SDA要设置为开漏输出