芯片测试_基础练习_蓝桥杯

思路：

知识点：

import java.util.ArrayList;
import java.util.List;
import java.util.Scanner;

public class Main {
	public static void main(String[] args) {

		Scanner in = new Scanner(System.in);		 //开始输入n及测试值
		List<Integer> list = new ArrayList<Integer>();
		int n = in.nextInt();							
		int[][] a = new int[n][n];
		for (int i = 0; i < n; i++)
			for (int j = 0; j < n; j++)
				a[i][j] = in.nextInt();
		in.close();

A:		for (int i = 0; i < n; i++) {			//开始从0-(n-1)开始遍历

			list.clear();				//清空集合
			for (int j = 0; j < n; j++) 		//收集第i个检测器测试数据
				if (a[i][j] == 1)      		//检测成功的加入集合list
					list.add(j);
														
			if (list.size() > (n - 1) / 2) 	    	// 检测集合 假定过半是对的，开始校对	
				for (int k = 0; k < n; k++)
					for (int z = 0; z < list.size() - 1; z++) 
						if (a[list.get(z)][k] != a[list.get(z + 1)][k]) 
							continue  A;
		}
		
		for(int y = 0;y<list.size();y++) 		//将结果输出
			System.out.print(list.get(y) + 1 + " ");

	}
}

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3