使用过采样（Oversampling）提升ADC分辨率

前言

ADC是经常用到的一种元件，用于采集信号电压。

ADC有一个重要的参数——分辨率，该参数决定ADC能够分辨的最小电压刻度。比如如果ADC能够采集电压范围为 0 ~ 1.024V ，同时它的分辨率为 10位（即1024），那么它最小能够分辨的电压近似为 0.001V。

通常分辨率越高的ADC越贵，为了节省成本在某些情况下可以通过 过采样（Oversampling） 方式提升采样数据的分辨率，这篇文章将对此进行介绍。

方法

这个方法的理论前提是信号电压值会受到外界干扰而导致引起ADC采样最小分辨率以上的变化。 比如某个1V的信号电压在环境中一直呈现出1.001、0.999、0.998、1.000、1.002……等变化的状态，从而导致ADC采样时数据会变化。

通常环境中都会有随机摆动变化的白噪声干扰，只要这个干扰引起信号电压变化满足上述条件的话就可以使用下面的方法来提升分辨率：

为了提升p位分辨率，连续采样 4^p 个数据求和，对求和的结果右移p位（即除以2^p）得到数据就是最终提升了分辨率后的采样数据。

提升1位分辨率，需要连续采样4个数据求和，然后对求和的结果右移1位；
提升2位分辨率，需要连续采样16个数据求和，然后对求和的结果右移2位；
提升3位分辨率，需要连续采样64个数据求和，然后对求和的结果右移3位；
……

这个方法的副作用是ADC的采样速率变相的大大下降了。

后记

上面只是简单介绍了可以使用该方法的条件和使用方式，具体的介绍论证与扩展等可以参考下面文章：
《AN2668 - Application note - Improving STM32F1 Series, STM32F3 Series and STM32Lx Series ADC resolution by oversampling》