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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
代码 好芯片比坏芯片多 利用数组计1的个数 如果1的个数超过一半 就是好芯片
#include <iostream>
using namespace std;
int main() {
int n;
cin >> n;
int a[21][21];
int b[21]={0};//记录1的个数
int i;
for (i = 1; i <= n; i++) {
for (int j = 1; j <= n; j++) {
cin >> a[i][j];
if (a[i][j] == 1) {
b[j]++;
}
}
}
for (i = 1; i <= n; i++) {
if (b[i] > (n / 2)) {
cout << i << " ";
}
}
return 0;
}