问题叙述:
VLSI芯片测试
Diogenes教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片,原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测二片,当该装置中放有两片芯片 时,每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总是能够报告另一片的好坏,但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样,每次测试的四种可能结果如下:
A芯片报告 B芯片报告 结论
B是好的 A是好的 都是好的,或都是坏的
B是好的 A是坏的 至少一片是坏的
B是坏的 A是好的 至少一片是坏的
B是坏的 A是坏的 至少一片是坏的
a)证明若多于n/2的芯片是坏的,在这种成对测试方法下,使用任何策略都不能确定哪个芯片是好的。假设坏的芯片可以联合起来欺骗教授。
b)假设有多于n/2的芯片是好的,考虑从n片中找出一片好芯片的问题。证明n/2对测试就足以使问题的规模降至近原来的一半。
c)假设多于n/2片芯片是好的,证明好的芯片可用Θ(n)对测试找出。给出并解答表达式测试次数的递归式。
注:VLSI——Very Large ScaleIntegrated.
算法分析:
a)采用穷举法,将任何一片芯片与其它所有芯片进行比较,因为有多于n/2的芯片是坏的,且坏的芯片可以联合起来欺骗教授,则测试结果是不可靠的,无法判断出该芯片是好是坏。
b)假设:设有a个好的芯片数,b个坏的芯片数,z对测试结果为全好的测试对,其中芯片全为好的测试对为x,芯片全为坏的测试对为y,x+y=z。
二分测试思想:
1.随机的两两配对,则共有⌊n/2⌋对,分别测试。
2.根据问题描述:如果测试结果为一好一坏,或者两坏,那么把这对丢弃;如果测试结果为两好,那么随意丢弃其中一个,留下一个(若n为奇数,则剩余一个芯 片没有配对。若z为奇数,丢弃这个芯片;若z为偶数(0也看做偶数),留下这个芯片)。这样操作后,留