蓝桥杯-基础练习-芯片测试

首先上题目：

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

—————————————我是分割线————————————–
思路：
问题中有一句很重要的话“已知好芯片比坏芯片多”，我的解题思路就是从这句话出发。

已知好的比坏的多，那么如果一块芯片是好的，那么测试的结果“1”肯定多于“0”且大于等于（n/2）。
有的同学一定回想，为什么是大于等于呢？而不是大于呢？

原因是问题中有一句话：“i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）”。
题目已经说了芯片自己不能测试自己。比如有5快芯片，3块好的，2块坏的。现在测试一块好的芯片，那么结果最少有3个“1”，减去自己测试自己的一个“1”。
所以是大于等于。

下面上代码：

import java.util.Scanner;
public class Main {
    public static void main(String[] args) {
        Scanner scanner=new Scanner(System.in);
        int n=scanner.nextInt();
        int[][] xp=new int[n][n];
        String output="";
        //用二维数组储存输入的数字
        for (int i = 0; i < xp.length; i++) {
            for (int j =0 ; j < xp.length; j++) 
                xp[i][j]=scanner.nextInt();
        }
        for (int i = 0; i < xp.length; i++) {
            int sum=0;//每测试一块芯片初始化一次变量
            for (int j = 0; j < xp.length; j++) {
                //如果芯片本身跳过
                if (i==j) continue;
                //统计当前这块芯片被其他芯片测试结果为“1”的次数
                if (xp[j][i]==1) sum++;
            }
            //如果统计结果大于等于芯片总数一半，确定是好芯片
            if (sum>=(n/2)) output+=(i+1)+" ";
        }
        System.out.println(output);
    }   
}