第三章 Smart X超融合测试历程第三天

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第一章 Smart X超融合测试历程第一天

第二章 Smart X超融合测试历程第二天

第三章 Smart X超融合测试历程第三天

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一、测试虚机在线迁移

二、测试虚机克隆

1.测试克隆一台虚机结果

2，测试克隆10台虚拟机的结果

三、模拟主机故障测试结果（一台主机故障）

四、模拟坏盘测试结果（之间拔一块硬盘）

五、SmartX 超融合FIO测试结果

1.3P1v1d性能测试

2.3P1v3d性能测试

3.3P3v2d性能测试

六、总结

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一、测试虚机在线迁移

测试用时13s

二、测试虚机克隆

1.测试克隆一台虚机结果

完全拷贝克隆 4m28s

2，测试克隆10台虚拟机的结果

用时16m27s

完全拷贝克隆只能指定放置在某个主机上

三、模拟主机故障测试结果（一台主机故障）

一台主机故障后，其上运行的虚拟机在另外的主机上重启并可正常通信（预计1分钟）

四、模拟坏盘测试结果（之间拔一块硬盘）

拔盘的测试过程是正常可预期的，但把硬盘插回去后，硬盘出现不可用状态。

硬盘插回槽位之后，因为是同一块硬盘，会被识别为非健康状态，这个时候需要手动设置成健康状态

zbs-node set_disk_healthy /dev/***

运行命令后，重新挂载硬盘即可

五、SmartX 超融合FIO测试结果

测试时都是手工测试，手工记录，可能会出现数值填写错误等问题。

1.3P1v1d性能测试

1个虚拟机，每个虚拟机配置了1块虚拟磁盘用作数据盘，并对其进行IO压力测试，结果如下表：

读写模型	IO深度	线程数	磁盘大小（G）	Runtime（s）	IOPS	吞吐量（Mips）	平均时延（ms）
256k_write	32	1	20	60	4486	1122	7.13
256k_rw_50%	32	1	20	60	R:4459 W:4477	R:1115 W:1120	R:0.67 W:6.48
256k_read	32	1	20	60	18.6k	4643	1.72
1024k_write	32	1	20	60	1120	1121	28.54
1024k_rw_50%	32	1	20	60	R:986 W:988	R:987 W:989	R:13.76 W:18.63
1024k_read	32	1	20	60	3018	3019	10.6
4k_randwrite	128	1	20	60	116k	452	1.1
4k_randrw_70%	128	1	20	60