DSP RTOS综合功能案例测试手册——TMS320C6678＋Kintex-7开发板

前 言

为减少用户在产品开发过程中对DSP外设接口程序进行整合的难度，创龙科技提供已对各DSP主要外设接口实现底层初始化的RTOS综合功能测试IFD(Integrated Function Demo)案例程序。用户可基于此IFD案例程序模板进行开发，加快项目研发进度。

IFD案例位于产品资料“4-软件资料\Demo\DSP_Demo\”目录下，主要功能为EEPROM、NOR FLASH和NAND FLASH等存储设备读写速率测试，以及SRIO、PCIe、EMIF16和Ethernet等外设接口测试，详细说明见下表。

表 1

设备/接口	测试内容	读写速率
EEPROM	数据读写速率及正确性	write：0.02MB/s read：0.04MB/s
NAND FLASH	数据读写速率及正确性	write：0.48MB/s read：0.80MB/s
NOR FLASH	数据读写速率及正确性	write：0.30MB/s read：1.27MB/s
DDR	数据写入速率及正确性	write：33321Mbps
EMIF16(FPGA)