基础训练 BASIC-23芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

C语言程序：

#include<stdio.h>
int main()
{
	int a[20][20];
	int i, j, n, count=0;
	scanf("%d",&n);
	if(n < 2 || n > 20)
		return 0;
	for(i=0; i < n; i++)
	{
		for(j=0; j < n; j++)
		{
			scanf("%d",&a[i][j]);
		}
	}
	for(j=0;j < n; j++)
	{
		for(i=0; i < n; i++)
		{
			count +=a[i][j];		
		}
		if(count > n/2)
			printf("%d ",j+1);
		count=0;
	}
		
	return 0;
}