单片机 adc 阻抗计算

最新推荐文章于 2025-04-13 21:44:50 发布
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分类专栏： 单片机 文章标签： 单片机
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本文记录了在使用STM32和瑞萨单片机时遇到的ADC阻抗计算问题。对于SAR型ADC，采样过程中的电压误差与源信号阻抗有关。为了确保ADC转换精度，需限制源信号的最大输出阻抗。计算阻抗涉及采样电容、等效电阻和采样时间等因素。可通过调整采样时间来改善ADC性能。文中列举了几款常用MCU的阻抗计算实例，并提及STM32的高精度ADC实现策略。

摘要生成于 C知道 ，由 DeepSeek-R1 满血版支持， 前往体验 >

之前从STM32切换到华大单片机时，在adc的阻抗问题上踩过坑；最近测试瑞萨单片机时，又忘记了阻抗怎么计算。所以专门写个笔记，来做个记录。

ADC采样时的等效电路（来自STM32手册）

一般单片机内部的ADC都是SAR型，主要分采样和转换两个步骤。采样时，内部采样电容 C_{ADC}充电，阻抗包括ADC内部等效电阻 R_{ADC}和信号源的输出阻抗R_{AIN}.

这是标准的RC充电电路，电容C上的电压为：

\large V_{t}=V_{AIN}*[1-e^{-\frac{t}{(R_{AIN} + R_{ADC})*C_{ADC}}}]

采样时间 T 固定后，电容C与源信号之间的电压误差为：

\large V_{err}=V_{AIN}*e^{-\frac{T}{(R_{AIN} + R_{ADC})*C_{ADC}}}

从公式可以看到，电压误差与源信号幅度有关：源信号越大，电压误差越大。当源信号

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相关概念 输入阻抗 : 指一个电路输入端的等效阻抗。在输入端上加上一个电压源U，测量输入端的电流I，则输入阻抗Rin就是U/I。你可以把输入端想象成一个电阻的两端，这个电阻的阻值，就是输入阻抗。 输出阻抗 : 含独立电源网络输出端口的等效电压源(戴维南等效电路）或等效电流源(诺顿等效电路）的内阻抗。其值等于独立电源置零时，从输出端口视入的输入阻抗。阻抗越小，驱动更大负载的能力就越高. 输入输出阻抗计算 : 参考https://www.cnblogs.com/igalaxy/p/13243350.html S
关于ADC输入阻抗的问题
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在做一款消费电子产品时，需要采集电池电压（3.3V-4.2V），同时在休眠的时候希望尽量减小待机电流。电池电压采集电路采用两个1%的300K电阻进行分压，由该电路引起的待机电路为4.2/（300+300）mA=7uA.此时比较合理（整机的待机电流要求30uA以内）。 初始设计电路如下: 　　 在编程采集数据时发现测试电压与实际电压有偏差，测试值总比实际值偏小一点。在软件上做补偿，把值修正了。 但是换一个板子测试的时候发现测试的电压又不准了，此时知道通过软件补偿这种方法行不通。那么只能从硬件找原因。 查找d
[APM32F407]ADC输入阻抗&电压对采样精度的影响
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2、下载代码到开发板对比，是否是代码问题。（开发板端正常，验证了跟软件无关）ADC端口输入阻抗为200Ω，VREF电压是3.3V转2.5V。针对这个问题，做了以下方案的排查，测试反馈的结果还是差强人意。1、发现问题仍然存在，这说明跟软件配置相关性不大。1、测试结果还是有影响，问题仍然存在。基准电压源增加缓冲器，使用稳压源作基准电压。输入阻抗改大到10K。
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1.SAR型（逐次逼近型）ADC，这种ADC内阻都很大，一般500K以上。即使阻抗小的ADC，阻抗也是固定的。所以即使只要被测源内阻稳定，只是相当于电阻分压，可以被校正。 2.开关电容型，如TLC2543之类。他要求很低的输入阻抗用于对内部采样点燃快速充电。这时最好有低阻源，否则会引起误差。实在不行可以在外部并联一个很大 的 电容，每次内取样后，大电容的电压下降不多。因此并联外部大电容后，开关电...
STM32采集AD的输入阻抗问题(转载)
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学习单片机adc
03-19
<think>嗯，用户想了解学习单片机ADC的内容。首先，我需要明确ADC的基本概念，也就是模数转换器，把模拟信号转成数字信号。这部分是单片机处理现实世界信号的关键，比如温度、光强这些。 接下来，得考虑用户可能的背景。可能是刚开始接触单片机的新手，所以得从基础讲起。需要解释ADC的工作原理，比如采样、保持、量化和编码这些步骤。还要提到分辨率，比如8位、10位、12位，不同分辨率的区别和应用场景。 然后，用户可能需要知道如何实际使用ADC。这里应该分步骤说明，比如初始化配置，选择通道，启动转换，读取结果。每个步骤需要涉及哪些寄存器或库函数，可能要根据常见的单片机型号，比如STM32或Arduino，给出例子，但可能需要保持通用性，除非用户指定了型号。 另外，常见问题也是用户关心的部分。比如参考电压的选择，噪声干扰的处理，采样速率的影响。这些实际应用中容易遇到的问题，需要给出解决建议，比如滤波电路、软件滤波算法。 还要考虑应用实例，比如温度监测系统，这样用户能更直观地理解ADC的使用。可能还需要提到校准方法，因为ADC可能存在误差，校准能提高精度。 用户可能没有提到的深层需求是实际项目中的应用技巧，比如如何优化ADC的读取速度，或者如何降低功耗。这些进阶内容可以稍微提一下，让回答更全面。 最后，确保结构清晰，分点讲解，用例子帮助理解。避免使用过于专业的术语，或者至少解释清楚术语。同时，注意使用正确的中文和LaTeX格式，比如ADC的分辨率写成$2^{10}=1024$，符合用户的格式要求。</think>学习单片机ADC（模数转换器）的步骤如下，我们将从原理到实践逐步展开： 一、ADC基础概念 1. ADC作用：将模拟信号（如电压）转换为数字信号，供单片机处理 2. 核心参数： - 分辨率：用位数表示，如8位（$2^8=256$级）、12位（$2^{12}=4096$级） - 采样速率：每秒采样次数（Sa/s） - 参考电压（$V_{ref}$）：决定输入量程的关键参数 二、硬件电路原理 1. 典型输入电路： $$ V_{in} = \frac{R_2}{R_1+R_2} \cdot V_{src} $$ 需注意阻抗匹配和滤波设计 2. 参考电压选择： - 内部基准（如3.3V） - 外部高精度基准源（如TL431） 三、寄存器配置（以STM32为例） 1. 初始化流程： ```c // 使能ADC时钟 RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC1, ENABLE); // 配置通道和采样时间 ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_239Cycles5); // 启动校准 ADC_StartCalibration(ADC1); ``` 四、软件实现关键 1. 轮询模式示例： ```c ADC_SoftwareStartConvCmd(ADC1, ENABLE); while(!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC)); // 等待转换完成 uint16_t adc_value = ADC_GetConversionValue(ADC1); ``` 2. 数据处理技巧： - 中值滤波：取多次采样中间值 - 滑动平均：$$ V_{avg} = \frac{1}{N}\sum_{i=1}^{N}V_i $$ 五、典型问题解决方案 1. 噪声抑制： - 硬件：并联100nF电容 - 软件：数字滤波（如IIR滤波） 2. 精度提升： - 使用差分输入模式 - 冷启动时进行自校准 六、实践案例：温度测量系统 1. 电路设计： NTC热敏电阻电路： $$ R_T = R_0 \cdot e^{B(\frac{1}{T}-\frac{1}{T_0})} $$ 2. 软件实现： - 查表法快速转换 - 分段线性插值提高精度 建议实践步骤： 1. 先用开发板测试ADC基础功能 2. 实现电位器电压测量（0-3.3V） 3. 设计光照传感器数据采集系统 4. 尝试多通道自动扫描模式 注意：不同单片机（如STM32/ESP32/51系列）的ADC模块差异较大，建议结合具体芯片手册学习。实际项目中需特别注意电磁兼容设计，当测量精度要求高于10位时，建议使用独立模拟电源供电。
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