平台运营专有名词

访问单位——UV、PV

UV (独立访客) 即Unique Visitor/User, 访问网站的一台电脑客户端为一个访客

PV(访问量):即Page View, 即页面浏览量或点击量,用户每次刷新即被计算一次

活跃用户——AU、DAU、WAU、MAU

AU(Active Users),活跃用户,统计周期内,登录过平台的用户数相应的;

根据统计周期,有**DAU(日活跃用户),WAU(周活跃用户),MAU(月活跃用户)**等。

付费用户——PU、APA

PU( Paying User):付费用户

APA(Active Payment Account):活跃付费用户数

新用户——NU、DNU

NU(New Users): 平台中的新登入用户数量

DNU(Daily New Users): 每日平台中的新登入用户数量

客户获取成本及收益——CAC、ARPU、ARPPU、PUR

CAC(Customer Acquisition Cost):用户获客成本。

ARPU(Average Revenue Per User) :平均每用户收入。
ARPU = 总收入 / AU

ARPPU (Average Revenue Per Paying User): 平均每付费用户收入
ARPPU = 总收入/APA

PUR(Pay User Rate):付费比率
PUR = APA / AU

生命周期——LT、LTV

LT(Lift Time ):用户生命周期,从用户开始接触产品到离开产品的整个过程。用户生命周期可分为:引入期、成长期、成熟期、休眠期、流失期。对应的是用户对产品不同的参与程度。

LTV(Lift Time Value):生命周期价值,即平均一个用户在首次登录平台到最后一次登录游戏内,为该平台创造的收入总计

产品单位——SKU、SPU

SKU(Stock keeping Unit):库存保有单位,即物理上不可分割的最小存货单元。

SPU(Standard Product Unit):标准化产品单元,商品信息聚合的最小单位,通俗点讲,属性值、特性相同的商品就可以称为一个SPU。

成交总额——GMV

GMV(Gross Merchandise Volume):即商品交易总额,多用于电商行业,一般包含拍下未支付订单金额

投资收入比——ROI与ROAS

ROAS,全称是Return on Advertising Spend,即“广告投资回报”;

ROAS=总收入÷广告支出

ROI,全称是Return on Investment,即“投资回报”。

ROI=(销售额-投入成本)÷投入成本

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### 回答1: STDf文件是被广泛使用于半导体测试行业的一种数据格式。是Semiconductor Test Data Format(半导体测试数据格式)的缩写。STDf格式文件能够存储一段时间的测试数据,包括每个芯片的测试结果、测试程序、测试条件、测试设备、测试时间等信息。 专有名词解释如下: 1. Test program(测试程序):是在芯片测试过程中使用的软件程序,用于进行测试操作的自动化 2. Test Head(测试头):一种具有测试卡和传感器的设备,用于接触芯片并读取测试结果。 3. Tester(测试仪):主要用于进行半导体器件或电路测试和分析的设备 4. Device Under Test(芯片):被测量器件或电路 5. Pin(引脚):在芯片上用于连接电路的金属引脚 6. Site(测试站):测试头的一个位置,它可以用于测试一个芯片或一组芯片。 7. Scan Chain(扫描链):在芯片中引导测试信号流动的序列。 8. Timing Information(时序信息):在每次测试期间记录的时间信息,用于对测试结果进行时间分析。 9. Wafer(晶圆):是芯片生产过程中用于切割成芯片的大片硅晶体。 10. Test Condition(测试条件):定义了在测试过程中用于设置测试参数和测试设备的规范和条件。 ### 回答2: STD(Stand Test Data Format)文件是半导体测试数据的标准格式,用于记录芯片的测试数据信息。它是一种二进制格式,通常以*.std文件扩展名表示,可被各种半导体测试设备和测试工具支持。 STD文件中的专有名词主要包括以下几个:Test Head,Site,Pin,Vector,Part,Wafer。其中,Test Head是测试头,位于测试工站上,用于发出测试信号和接收反馈信号,控制芯片的测试过程;Site是指芯片测试站点的序号,一个芯片会有多个测试站点;Pin是指芯片的引脚,每个站点上有一个或多个引脚;Vector是测试向量,即测试程序中芯片测试所需的信号序列,包含多个测试点的信号信息;Part是测试批次的名称,用于标识同一个批次的芯片;Wafer是指晶圆,即多个芯片在同一片晶圆上制造而成,测试时需要将测试向量应用到各芯片上。 除此之外,STD文件还包含如时间戳、测试程序版本、测试结果等信息,方便对芯片的测试数据进行分析和管理。STD文件的统一格式不仅可以保证测试结果的一致性和可靠性,还方便了不同测试设备和测试工具的数据转换和共享。 ### 回答3: STDF (Standard Test Data Format)文件是集成电路测试数据的标准格式。它是由Semiconductor Test Data Exchange Format Working Group(STDF WG)开发的一种二进制文件格式。这一组织的成员包括各大半导体公司和测试设备制造商。 STDF文件分为头部记录和数据记录两部分。头部记录包含了关于测试数据的基本信息,如生产、测试日期,整个文件的版本等。数据记录是针对每个被测试元件生成的测试数据,包括被测试元件的型号、序列号和被测试功能等。 STDF文件中包含了一些专有名词,需要解释一下。其中,WAFER(晶圆)是指在半导体制造过程中,被加工的圆片状硅晶体,用于制造芯片。LOT(批次)是指在制造晶圆时,将同种型号的晶圆放在一起进行生产和测试,称为批次。首件(FIRST)指的是批量生产之前,取出一片晶圆,用于测试制造工艺是否正确。 另外,STDF文件中还有元件标志(PARTID)和测试标志(TEST_NUM、TEST_FLG)等字段,用于定位被测试元件和识别产生的测试数据。 总而言之,STDF文件是记录集成电路测试数据的标准格式,通过标准化数据格式,方便各大公司之间的数据交流,促进了半导体产业的发展。

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