S32K1xx
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介绍S32K1xx系列MCU的相关知识
Auto FAE进阶之路
汽车电子FAE
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试用NXP官方的UDS bootloader
最近很多客户在开发S32K系列MCU时咨询是否可以提供基于UDS协议的bootloader。本文以S32K144为例,介绍如何使用NXP官方提供的UDS bootloader例程。原创 2024-05-09 11:42:11 · 1504 阅读 · 0 评论 -
【技术支持案例】S32K146的hard fault问题处理
最近有个客户使用S32K146的产品在量产之后出现了三个售后件,ABBA测试之后的结果表明失效现象跟着S32K146走;同时客户反馈说试着将其中一个售后件重新烧录程序,S32K146又正常工作了。结合这两种情况,S32K146应该是没有损坏的,那就需要从软件程序方面排查了。原创 2023-09-09 21:07:05 · 2210 阅读 · 1 评论 -
基于Tkinter制作简易的串口bootloader上位机
最开始打算使用pyqt5制作bootloader上位机的,但是折腾开发环境太麻烦,对应的资料太多太杂,导致进展缓慢。后来在网上发现了基于tkinter的串口助手项目以及适合新手的tkinter学习网站,决定尝试使用tkinter,终于在春节的这段时间折腾出来一个简易的串口bootloader上位机。原创 2023-01-26 21:07:20 · 2179 阅读 · 2 评论 -
如何在S32K144中优雅地输出调试信息
前两天在CSDN上面刷到一些介绍开源项目log.c的文章,称赞log.c是一款轻量级日志库,使用简单。笔者怀着兴趣去log.c从log.c的源码看,非常适合用在嵌入式Linux系统中,但是在MCU中却没法直接使用。因此,笔者对log.c的源码进行修改,使其能够用在MCU中,并保留原本log.c开源项目的大部分功能。原创 2022-10-19 16:50:36 · 1320 阅读 · 2 评论 -
基于CoreMark进行S32K144的性能测试
按照CoreMark官网的介绍,CoreMark是一个简单但设计精巧的基准测试,专门用于测试处理器内核的功能。运行CoreMark会产生一个单一数字的分数,使用户能够在处理器之间进行快速比较,得分越高的处理器,意味着其性能越强。原创 2022-10-06 19:38:56 · 1910 阅读 · 0 评论 -
基于S32K144平台实现两种软件定时器
MultiTimer是一个软件定时器扩展模块,可无限扩展你所需的定时器任务,取代传统的标志位判断方式, 更优雅更便捷地管理程序的时间触发时序。本文将介绍如何在S32K144平台上使用MultiTimer并且介绍其他常用的软件定时器原创 2022-10-04 20:56:13 · 2736 阅读 · 0 评论 -
ISELED---氛围灯方案的新选择
主要介绍如何快速评估ISELED方案原创 2022-07-24 19:43:35 · 8360 阅读 · 14 评论 -
S32 Design Studio for ARM 2.2 快速入门
本文主要介绍 S32 Design Studio for ARM 2.2 开发环境的安装和使用,使用的 SDK 为该环境自带的 RTM 3.0.0,旨在帮助读者快速掌握该开发环境,更方便的开发 S32K1xx 系列 MCU。原创 2022-06-26 00:16:46 · 20075 阅读 · 32 评论 -
如何在软件复位后保留指定RAM区域的数据
本文主要介绍S32K144的RAM retention功能原创 2022-02-06 16:52:04 · 11668 阅读 · 4 评论 -
如何使用S32K1的PDB模块触发多个ADC通道连续采样
文章目录1. 外设模块介绍1.1 PDB模块简介1.2 ADC通道1.3 ADC触发源1.4 PDB触发多个ADC通道的两种方式2. 例程2.1 例程功能介绍2.2 例程编写2.2.1 准备工作2.2.2 图形界面配置2.2.3 测试代码2.3 例程测试2.3.1 背靠背模式2.3.2 多个预触发器触发ADC2.3.3 取消预触发器输出2.3.5 预触发器通道延迟的作用2.3.5 预触发器通道延迟的作用3. 参考资料3.1 参考文档3.2 例程1. 外设模块介绍1.1 PDB模块简介S32K1的原创 2021-11-12 18:45:47 · 7257 阅读 · 19 评论 -
巧用S32K的EEPROM模拟功能标定参数
巧用S32K的EEPROM模拟功能标定参数1. 背景描述最近和一些汽车电子客户交流了下XCP标定,了解到的大概流程如下:首先对地址进行分区,分为工作页和参考页,工作页的地址为RAM地址,参考页的地址为Flash地址。同时分配工作页和参考页中的参数地址,要保证每个工作参数和对应的参考参数的地址偏移量是一样的。上电之后,将参考页的参数(Flash区数据)拷贝到工作页的参数(RAM区变量)中,这个工作可以在主函数实现或者链接文件中实现。然后在车辆运行时调整工作页参数,停车之后再调整对应的参考页参数。原创 2021-11-02 18:23:04 · 3250 阅读 · 0 评论 -
FreeMASTER快速入门
文章目录FreeMASTER快速入门1.FreeMASTER介绍2.FreeMASTER获取3.FreeMASTER用法3.1 准备工作3.2 通信方式介绍3.3 FreeMASTER简单使用3.3.1 基于OpenSDA调试器使用FreeMASTER3.3.1.1 准备可执行文件3.3.1.2 创建FreeMASTER工程3.3.1.3 测试效果3.3.2 基于USB转UART工具使用FreeMASTER3.3.2.1 准备可执行文件3.3.2.1.1 增加UART组件3.3.2.1.2 增加FreeMA原创 2021-10-16 16:04:39 · 13519 阅读 · 24 评论 -
如何使用S32DS开发KEA系列的LIN功能(二)
基于S32DS+LIN_Stack_S12编写KEA的LIN例程文章目录基于S32DS+LIN_Stack_S12编写KEA的LIN例程1.KEA基于S32DS的驱动和例程获取2.LIN Stack移植2.1添加文件以及目录2.2协议栈文件修改适配S32DS3.用户程序编写3.1准备工作3.1.1硬件平台3.1.2功能需求3.2 S32K144(主机)+KEA128(从机)3.2.1 S32K144的LIN Mater例程导入3.2.2 S32K144的LIN Mater例程解读3.2.3 KEA128的原创 2021-09-05 20:30:48 · 2860 阅读 · 6 评论 -
S32K1xx芯片如何利用SDK处理CAN Error简介
S32K1xx芯片如何利用SDK处理CAN Error简介1.背景介绍S32K1xx芯片由于其在通用汽车MCU中性价比极高,而被许多客户选来开发包含CAN功能的车身电子产品(如BCM,lighting,Doors,BMS,ABS)。而汽车电子类的产品,只要用到了CAN,一般在物理层都需要进行CAN error处理的测试,相关的测试项如下表所示:测试项目测试结果物理层CANH或CANL断路物理层CANH与或CANL对电源短路物理层CANH与或CANL对地短路原创 2021-02-24 22:14:25 · 4008 阅读 · 6 评论 -
试用基于S32K144平台的AutoSAR4.2.1的MCAL
NXP的S32K1xx系列MCU在汽车电子应用非常广泛,同时NXP也将S32K1xx的MCAL发布在官网,但是相关使用说明较少。本文主要引导客户如何安装S32K1xx的MCAL以及相应的配件,同时也讲解了如何使用GCC编译运行MCAL自带的例程。原创 2020-09-03 17:11:20 · 8563 阅读 · 24 评论 -
S32DS for ARM 2018.R1 链接文件(linker file)学习笔记
S32DS for ARM 2018.R1 链接文件(linker file)学习笔记在S32DS for ARM 2018.R1自带的例程中有两个链接文件,分别为S32K1xx_flash.ld和S32K1xx_ram.ld,前者针对的是程序在flash中运行的链接文件,后者是在ram中运行程序所需要的链接文件。以下以S32K144的flash.ld文件为例,进行简单的分析/* Entry ...原创 2020-03-24 22:03:52 · 6417 阅读 · 2 评论