实验二:逻辑门外特性的测试
一、实验目的
- 掌握 TTL 门电路各参数的意义及测试方法。
- 掌握 CMOS 门电路各参数的意义及测试方法。
- 通过对门电路外特性的测试,更好地了解 TTL 与 CMOS 门电路的电气性能和特 点。
- 进一步熟悉示波器的使用方法及分析波形图的能力。
二、仿真器材
- 四2输入74ls00芯片
- 电流表
三、实验内容
1. 测量 TTL 门电路的空载功耗
① 空载导通功耗 PON
空载导通功耗PON是指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功率损耗。
② 空载截止功耗 POFF
空载截止功耗 POFF 是指输入至少有一个为低电平、输出为高电平且不带负载时的 功率损耗。
③ 静态平均功耗 静态平均功耗是电路空载导通功耗 PON和空载截止功耗 POFF的平均值。
2. 测量 TTL 门电路的输入短路电流 IIS
输入短路电流 IIS 是指一个输入端接地,其余端开路或接高电平,输出空载时接地 输入端流出的电流。
3.测量 TTL 门电路的高电平输入电流 IIH
高电平输入电流 IIH 又称输入漏电流,它是指输入端一端接 高电平、其余输入端接地时流过那个接高电平输入端的电流。
4. 测量 TTL 门电路的扇出系数 NO
扇出系数 NO是指门电路能正常驱动同型号门电路的最多个数。