一、实验目的和任务 测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理介绍 实验中用到的基本门电路的符号为: 在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。 三、实验数据、计算及分析