芯片静态电流详细测试流程，纯干货分享

在芯片的众多测试项目中芯片的功耗测试可谓重中之重，因为芯片的功耗不仅关系着芯片的整体工作性能也对芯片的工作效率有着非常重大的影响。今天纳米软件就带你了解一下芯片测试项目功耗测试中的静态电流的测试。

01、什么是芯片的静态电流?

芯片的静态电流也叫做芯片静态功耗，它是芯片测试中的非常重要的指标之一，可以直接决定芯片的整体消耗与工作效率，过大的静态电流会导致芯片效率低下，减少芯片的使用寿命同时影响芯片的整体性能，因此对于同一款芯片来说静态电流越小，芯片的质量测越好。

02、芯片中的静态电流是如何产生的?

芯片静态电流是由芯片内部的晶体管的漏电流和互偶效应等因素共同影响而产生的。当晶体管关闭时，漏电流仍然存在，这就是造成静态电流的主要原因。此外，芯片内部的不同模块之间交互作用也会导致静态电流的增加。

03、芯片的静态电流由哪些因素影响?

静态电流的影响因素

芯片静态电流的大小是由制造工艺、器件参数以及芯片结构等因素综合决定的。制造工艺的不同会导致晶体管的大小和电流特性的差异，从而影响芯片的静态电流。

减小静态电流的有效方式

同样为了减小芯片的静态电流，我们可以从上面的影响因素方面入手，比如可以通过采用CMOS的制造工业、优化芯片设计布局、减少晶体管使用数量等方式有效的减少芯片中的静态电流，从而提升芯片的性能和效率。

目前市场上的测量方法是手动测量采集芯片的电压和电流，然后得出芯片的平均功耗或者静态电流。不过这种测试方法只能针对小批量同规格的芯片，因为手动测试中的采集电路精度不够高，人为采集会出现错漏等原因，会产生一定的测试误差，导致测试结果均为平均值或估值。

所以对于大批量测试和要求精度高的企业来说还是需要自动的芯片测试系统，如纳米软件的ATECLOUD-IC芯片测试系统只需将测试仪器和芯片连接好之后，运行软件即可完成静态功耗的测量，不同参数的配置与仪器操作完全由软件完成，无需人工修改参数与读取记录数据，可以一次对多个芯片进行同时测量，测试的效率与精度相比与手动测试来说有极大的提升。

此外数据自动采集与分析功能，也可以免去人工纸质报告的记录与分析，避免出现人工错漏，也极大的减少了人力与时间成本，从而提升企业的核心竞争力。

04、关于纳米软件

纳米软件作为国内知名的测试仪器软件服务开发商，在测试行业深耕十余年，为上千家用户提供可靠的测试系统及解决方案。纳米的产品包括各类电测仪器的自动化测试软件、自动化计量软件、上位机定制软件，此外纳米还开发设计了国内首款智能云测试平台ATECLOUD，填补了国内测试软件行业的空白。