[Android][sensor][accel]加速度单元测试tLOW值小于门限问题解决思路

三轴加速度器件（仅A）单元测试SCL高电平持续时间tLOW值约为1.26us，小于门限（最小值）1.3us，i2c频率实测391kHz（应该为400kHz），需要进行时序优化。

该问题最后未进行任何时序优化，不过在该过程中的思考方式可供参考。

SCL高电平持续时间tLOW由i2c clk控制。

进行以下尝试

1.将单A器件中i2c clk发送的频率由400改为800

/adsp_proc/ssc/sensors/da718/src/sns_mir3da_sensor.c

     state->common.com_port_info.com_config.min_bus_speed_KHz = 400;
     state->common.com_port_info.com_config.max_bus_speed_KHz = 400;

测试无明显改善。

2.更改i2c的dts配置

ap侧：kernel/msm-4.9/arch/arm64/boot/dts/qcom/msm89x9.dtsi
在该器件对应的i2c通路上更改（需要知道该器件接在哪个芯片上、接在哪路i2c上）

         qcom,noise-rjct-scl = <0>;
         qcom,noise-rjct-sda = <0>;

从0到3分别尝试
测试无明显改善。（这个是芯片平台修改错了，于是修改无效，该项目正确的芯片是msm89x7，但是由于时间原因，没有去修改编译测试，大家遇到问题的时候可以自己尝试修改试试）

3.依据I2C_CLK =19.2Mhz/(29+14+6)修改

ap侧：
kernel/msm-4.9/drivers/i2c/busses/i2c-msm-v2.c

/*
  * divider values as per HW Designers
  */
 static struct i2c_msm_clk_div_fld i2c_msm_clk_div_map[] = {
         {KHz(100), 124, 62},
         {KHz(400),  28, 14},  //28 is SCL tLOW counter and 14 is SCL tHIGH counter
         {KHz(1000),  8,  5},
 };

将SCL tLOW 改为比28大的数值，分别测试在29，32，34时的tLOW值，测试无明显改善。

fs_div,ht_div分别是低电平的计数器和高电平的计数器，要保证fs_div+ht_div+6总体减小，fs_div增大，这样时钟频率可以向400KHz接近，然后t_low的持续时间增大。可以根据需求调整这两个分频系数。

增大SCL tLOW 改为比28大的数值，减小SCL tHIGH，同时保证（fs_div+ht_div+6）减小，改为（30，11），（32，9），测试无明显改善。

4.评估风险

Qcom回复：已无可更改寄存器。
联系单A器件FAE，其研发评估通信正常无风险。