测量USB接口信号眼图质量

        此处只描述High－Speed模式信号质量的测试方法，Full－Speed测试方法可参考High－Speed测试方法。测试前连接好电路，对于USB 2.0 Host设备，差分探头TDP3500尽量靠近芯片信号输出地方，并注意极性不要接反。

眼图（Eye－Diagram）测试

1.1 眼图测试设置

眼图是非周期信号所特有的性质，周期信号是不能叠加出眼图的。由于High－Speed模式下一个USB数据包开始是同步的周期信号，故需要对示波器进行适当的设置才能正确捕获到眼图。

眼图测量设置步骤：

①开启DPX功能，开启无线余晖（菜单Display >子菜单display persistence >选中infinite persistence）；

②设置触发延时（菜单Horiz/acq >子菜单Position/scale），弹出以下窗口，设置Delay Mode “On”，Horiz delay“100ns”

1.2 捕捉眼图
设置好后，出现一个完整的数据帧波形，如下图所示。

放大该图形的数据部分，即可得到眼图，如下图所示。

1.3 检查是否符合模版要求

在USB2.0标准中，不同的USB Cable及不同测试点，所满足的模版要求是不一致的。本例测试的测试点选在下图TP1。

按照规范，测试眼图结果应满足模板5（Template 5）。该模版如下标描述所示，通过Point1～Point6 6个点的坐标确定眼图的位置。

Template 5	Level1	Level2	Point1	Point2	Point3	Point4	Point5	Point6
电压	575mV	-575mV	0V	0V	300mV	300mV	-300mV	-300mV
时间（按所 占UI比例）	-	-	5％UI	95％UI	35％UI	65％UI	35％UI	65％UI

        前面讲到单端信号高电平范围为360mV～440mV，单端信号低电平范围为-10mv～10mV，故理论的差分信号高电平范围为350mV～450mV， 理论差分信号低电平范围为－450mV～-350mV。但实际上眼图所给出的高低电平范围比理论范围要宽（分别为-575mV～-300mV和300mV～-575mV），这可能是考虑到信号在传输过程中的衰减及可能引入的噪声等原因。

可将实际测量得到的眼图上根据模版作图，看其是否符合模版要求。