JTAG接口电路

JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、测试。JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。

 

标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO。通过JTAG接口可以对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。

 

目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针和20针。20针接口的定义如下： 

1 VTref 目标板参考电压，接电源 2 VCC 接电源 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 RTCK 测试时钟返回信号 13 TDO 测试数据串行输出 15 nRESET 目标系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地 17 19 NC 未连接