一、实验目的
1.了解双端口静态随机存储器IDT7132的工作特性及使用方法。
2.了解半导体存储器怎样存储和读出数据。
3.了解双端口存储器怎样并行读写,产生冲突的情况如何。
二、实验电路
图2.1 双端口存储器实验电路图
三、实验接线
本实验共接线12根:
CEL#接K0
LRW接K1
CER接K2
LDAR1接K3
LDAR2接K4
SW_BUS#接K5
LDIR接K6
AR1_INC接地
M3接+5V
ALU_BUS接地
RS_BUS#接+5V
IAR_BUS#接+5V
四、实验过程
为了保证实验的正确进行置DP为1,DB,DZ为0
首先正确的连接线路
- 将数据从左边的寄存器
首先置K2、K4、K6为0,关闭右端口
1).将地址置入AR1:
置K0为1,K5为0,K3为1使AR1加载数据,将K5置为,在SW0~SW7输入要送入数据的地址,按下QD,给出时钟信号,这时输入的数据送入了AR1地址寄存器,将地址送入左端寄存器,可以将绿灯调到AR1挡位,可以观察出你送入的地址是否正确。
2)将数据送入相对应的地址:
K0为0左端有效,K5置为0,K3置为0此时AR1不加载数据,K1置为0使之为写挡位,在SW0~SW7输入要送入的数据,按下QD,给出时钟信号,将数据送入了相对应的地址,可以将红灯调到DBUS挡位,可以观察出送入的数据。
重复1)2)操作可以将指定的地址送入指定的数据。 - 将刚输入的数据从左端口读出
同样首先置K2、K4、K6为0,关闭右端口
1)将地址置入AR1:
置K0为1,K5为0,K3为1使AR1加载数据,将K5置为,在SW0~SW7输入要送入数据的地址,按下QD,给出时钟信号,这时输入的数据送入了AR1地址寄存器,将地址送入左端寄存器,可以将绿灯调到AR1挡位,可以观察出你送入的地址是否正确。
2)从左端口读出数据:
K0为0左端有效,K1置为0使之为读挡位,K3置为0此时AR1不加载数据,由于从RAM读出来的数据也输入到了DBUS总线上,DBUS总线上只能存在一个数据,所以置K5为0,按下QD,给出时钟信号,观察红灯,可以看出该地址下的数据。
重复1)2)操作可观察对应地址的数据。 - 将数据从右端口读出
首先K0为1,关闭左端口
1)将地址置入AR2:
K5为0,K4为1使AR2加载数据,K2为0使右端无效,K6为0关闭IR,将K5置为0,在SW0~SW7输入要送入数据的地址,按下QD,给出时钟信号,这时输入的数据送入了AR2地址寄存器,将地址送入左端寄存器,可以将绿灯调到AR2挡位,可以观察出你送入的地址是否正确。
2)从右端口读出数据:
置K4为0,K2为1使右端有效,K6为1IR加载数据,由于右端输出在指令总线上,与DBUS总线并不冲突,所以并不需要调整K5,按下QD,给出时钟信号,将红灯灯调到IR挡位,可以观相对应的数据。
重复1)2)操作可观察对应地址的数据。
五、实验数据
左端口读出
地址 | 绿灯(AR1挡) | 红灯(DBUS挡) |
00H | 0000 0000 | 0000 0000 |
10H | 0001 0000 | 0001 0000 |
20H | 0010 0000 | 0010 0000 |
30H | 0011 0000 | 0011 0000 |
40H | 0100 0000 | 0100 0000 |
右端口读出
地址 | 绿灯(AR2挡) | 红灯(IR挡) |
00H | 0000 0000 | 0000 0000 |
10H | 0001 0000 | 0001 0000 |
20H | 0010 0000 | 0010 0000 |
30H | 0011 0000 | 0011 0000 |
40H | 0100 0000 | 0100 0000 |
六、实验总结
通过这次实验,我主要学到以下几点:
双端口存储器的工作原理和使用方法:
了解双端口存储器的结构和功能,包括如何同时进行并行读写操作。
理解如何通过设置不同的控制信号来实现从左端口和右端口的数据写入和读取。
半导体存储器的数据存储和读取方式:
通过实际操作,深入了解半导体存储器是如何存储数据的,以及如何从存储器中读取数据。
数据读写过程中可能出现的冲突情况:
通过实验中的操作和观察,你可以了解并发读写可能引起的冲突情况,以及如何避免或解决这些冲突。
实验操作和数据观察:
学习实验操作步骤,并通过观察指示灯的状态以及读取的数据来验证操作的正确性。
掌握实验中使用的各种控制信号和指示灯的含义,加深对数字电路的理解和应用能力。
通过这次实验,我主要获得对双端口存储器及其操作的深入理解,并提升在数字电路实验方面的技能和知识。