自动化测试 | 如何选择半导体测试系统——你不得不知道的事

半导体产品

半导体产品，又被称为集成电路或者IC，英文名是Semiconductor Device。在半导体测试中常用DUT(Device Under Test)来表示需要检测的IC单元。半导体测试的主要目的，是利用测试设备执行设定好的测试工作，然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范，而这些参数值会记录在规格表(Device Specifications)中。

 

测试系统

一般测试系统会根据测试项目不同提供不同的测量参数。例如直流测试(DC Test)、功能测试(Function Test)、交流测试(AC Test)等。直流测试，是验证IC的电压与电流值；功能测试，是验证其逻辑功能是否正确；交流测试则是验证其是否在正确的时间点上进行设定的功能。在这个过程中通常需要测试程序来控制测试系统的硬件，并对每一次的测试结果，作出判断Pass或Fail。如果测试结果符合设计的要求则Pass，相反地，不符合设计时则为Fail。所以在搭建您的测试系统时首先要明确您的产品需要进行哪种测试。

 

如何选择？ 

明确目的后就可以开始搭建您的测试系统啦！

所谓的测试系统其实就是由电子电路及机械硬件所组成的一种装置。它被用来模拟各种环境并检测IC是否能正常运作，一般称为ATE(Automated Test Equipment)。所有的硬件都由电脑控制，它可以执行测试程序发出的一系列指令。前面提到测试的目的就是对我们的产品进行Pass和Fail的操作，为了不让我们合格的产品被误判，就得要求测试系统必须要能够提供正确的电压、电流、脉冲信号等。一套测试系统主要是由电源、测试器、信号产生器、测试向量产生器等硬件和测试程序组合而成。 

CPU在其中扮演系统控制器的角色，通常是一台电脑，可以控制整个测试系统。目前的很多设备都具有与外界交换信息的能力。

 

• DC子系统，包括DPS (Device Power Supplies)、RVS ( Reference Vol tage Supplies )和PMU ( Precision Measurement Unit )。DPS会提供电压和电流给DUT的电源接脚Power Pin(Vdd/Vcc)。RVS具备提供逻辑参考电压，以便判断逻辑为0或1，并具备比较电路，以便与这些VIL、VIH、VOL、VOH的电压设定值作比较。低成本或旧式的测试系统，只具备极少数量的RVS供应器，所以只能供应有限数量的输出输出逻辑。

 

• PMU主要提供DC参数的量测，它可以提供电流测电压，或者提供电压测电流。某些测试系统只提供一个精密量测单元(PMU)。当待测物的所有Pin须要DC量测时，会利用Per Pin的方式来使用。也就是每一个通道，都具备一个精密量测单元(PMU)。在这里有一个参数：测试通道，而“每通道”（Per Pin）结构的意义是，测试系统可以对待测物的每一根引脚提供独立的输出设定、输入设定及时序设定，这种结构能进一步的提高检测速率。

 

 

• Pattern Memory或Vector Memory是用来存放测试向量或测试模式的地方。测试模式(Pattern)就是大家所熟悉的真值表。测试机将存放在内存中的测试模式，输入(或称驱动)到待测物的输入脚位上，然后在输出脚位上，测量电压值。以便存放的Pattern值作比较。一般，功能测试(Function Test)时，测试向量(Pattern)所记载的逻辑值会被输入到待测物上，并且测量输出脚的逻辑值，以便与事先Pattern的内容作比较。如果不相符测试机会判断为功能失效(Functional Fail)。 

 

篇幅有限，我们就介绍到这里吧。总而言之，怎样在保证成本效益的前提下精确的完成您的测试系统是一个需要多方考量的事。

当然，如果您需要一套适合自己产品的半导体测试系统，欢迎随时与我们联系。