芯片测试算法及时间复杂度分析

 一.蛮力算法与分治算法

#include <stdio.h>
#include <math.h>
#define OVERFLOW -2
#define OK 1
#define ERROR 0
typedef int Status;
//芯片测试蛮力算法
void ChipTest_1()
{
	printf("请输入芯片个数\n");
	int amount;
	scanf("%d", &amount);
	getchar();
	//一片一片测试，好芯片需要测试芯片中至少一半证明它是好芯片，坏芯片需要测试芯片中多于一半证明
    //它是坏芯片
	//前提是好芯片至少比坏芯片多一片
	int count, test_ceil_amount;
	for (int i = 1; i <= (int)ceil((double)amount / 2); i++)
	{
		count = 0;
		for (int j = i + 1; j <= amount; j++)
		{
			printf("请输入第%d块芯片测试第%d块芯片的结果，用“T”与“F”表示\n",j,i);
			char c = getchar();
			getchar();
			if (c == 'T')
				count++;
		}
		test_ceil_amount = amount - i;
		if (count >= (int)ceil((double)test_ceil_amount / 2))
		{
			printf("第%d片是好芯片\n", i);
			break;
		}
		else
			printf("第%d片是坏芯片\n", i);
	}
}
//芯片测试分治算法
Status ChipTest_2(int amount)
{
	if (amount == 1)
	{
		printf("剩余芯片一定为好芯片\n");
		return OK;
	}
	//如果芯片总数为奇数则会有轮空芯片产生，其余芯片测试这个轮空芯片，如果为好芯片，测试成功，坏
    //芯片则淘汰
	if (amount % 2 == 1)
	{
		int count = 0;
		for (int i = 1; i <= amount - 1; i++)
		{
			printf("请输入第%d块芯片测试第%d块芯片的结果，用“T”与“F”表示\n", i, amount);
			char c = getchar();
			getchar();
			if (c == 'T')
				count++;
		}
		if (count >= (int)ceil(((double)amount - 1) / 2))
		{
			printf("第%d片是好芯片\n", amount);
			return OK;
		}
		else
		{
			printf("第%d片是坏芯片\n", amount);
			amount--;
		}
	}
    //芯片总数一定为偶数，可以取两片芯片相互测试，如果都报好，取一片留一片，一好一坏或者测试结果
    //都为坏都扔掉
	//这样留下的每个组的情况只可能是都好或者都坏，其他两种情况都扔掉是因为这样一组至少可以排除一
    //个坏芯片，仍然保持好芯片数量比坏芯片多
	int chipcount = amount;
	for (int i = 1; i <= amount / 2; i++)
	{
		printf("请输入第%d块芯片测试第%d块芯片的结果，用“T”与“F”表示\n", 2 * i - 1, 2 * i);
		char c1 = getchar();
		getchar();
		printf("请输入第%d块芯片测试第%d块芯片的结果，用“T”与“F”表示\n", 2 * i, 2 * i - 1);
		char c2 = getchar();
		getchar();
		if (c1 == 'T' && c2 == 'T')
		{
			printf("取一片扔一片\n");
			chipcount--;
		}
		else
		{
			printf("都扔\n");
			chipcount -= 2;
		}
	}
	ChipTest_2(chipcount);
}
int main()
{
	int amount = 5;
	ChipTest_2(amount);
}

二.时间复杂度分析

1.分治算法

    W(n)=W(n/2)+O(n)，W(1)=0

        等式右边第一项至多n/2规模，因为可能芯片会全扔，O(n)为轮空处理，n为奇数时候进行处理，偶数时候不需要，经过迭代得出W(n)=O(n)，为线性时间复杂度。

2.蛮力算法

    W(n)=W(n-1)+n-1,W(n/2)=0

        好芯片比坏芯片多一片，测试剩余n/2还没找到好芯片说明剩余芯片都为好芯片，经过迭代可知W(n)=O(n^2)，所以分治算法比蛮力算法好。