1. 目的:测试模块的数字信号输入到待测系统前,加一个隔离,可以起到保护测试模块的作用。待测系统的某些输入高电平与测试模块的不同,测试模块的数字加到待测系统前必须进行电平转换,否则无法准确工作。
2. 要求:5V转12V,同时实现数字隔离。
3. 实现:
3.1 方案1--使用光耦器件:优点是隔离效果好,集成度高,缺点是据说比较容易坏,使用时需要注意。现以TLP521-4为例
原理图如上,实现的是12V转5V的数字信号采样,1K电阻左边为12V信号,右边“P4B6”为采用输出电路
当左边为低电平或者悬空时,“P4B6”输出0V,当左边信号为12V高电平时,“P4B6”输出5V。
3.2 方案2--使用二极管实现隔离:优点是成本低;缺点是,集成度相对不高,并且对输入低电平有一定要求。
原理图如下,当“2-24”为低电平0V时,"RE3"输出为IN4148的正向导通电压,大概0.6V。当“2-24”为高电平(>=5V),"RE3"输出5V。
由上知道,使用这种方案的必须条件是,"RE3"的逻辑低电平>IN4148的正向导通电压,并且留有足够余量,否则电路可能不稳。