SSD Test(SNIA SSS PTS Version 2.0.2)

概述：该规范描述了固态存储设备级性能测试方法、测试套件和报告格式，旨在对客户端和企业应用中使用的各种外形、协议和接口的基于NAND Flash的固态存储产品提供准确、可重复和可靠的比较

一般SSD设备都是从FOB状态经历一段时间的工作负载后到达Transition，然后过渡到稳定状态性能Steady State

Scope：

1.预处理方法

2.performance测试

3.给出测试报告

一、关键词

1、预处理Pre-conditioning：将数据写入设备以准备稳态测量的过程

(a) Workload Independent Pre-conditioning (WIPC)：运行与测试工作负荷无关的规定的工作负荷的技术，作为一种便利趋于稳定状态的手段
(b) Workload Dependent Pre-conditioning (WDPC)：运行测试工作负载本身的技术，通常在独立于工作负载的预处理之后，作为将设备置于相对于被测试的因变量的稳定状态的方法。

个人理解：a项是与实际测试工作负载无关；b项是实际要跑的工作负载，而a项只是在测试b项前所做的铺垫

2、稳态Steady State

判断稳态方法：最大测试25轮。先取出前五轮的测试结果进行稳态的判断，如果没有到达稳态则进行下一轮的测试，接着比较，直到到达稳态。

如果25轮还未达到稳态，则取最后五轮的数据

(a) 结果的最大值-结果的最小值小于平均值的20%

(b) 结果的最大值-结果的最小值斜率小于10%

3、清除Purge

目的：在测试之前将设备置于一致状态（清空数据）

测试NVMe SSD进行purge方法：nvme format /dev/nvme*

二、测试项目

测试盘为企业级SSD (PTS-E)

Active Range=100%，Write Cache Disable

测试盘为消费级SSD (PTS-C)

Active Range=75%，Write Cache enable

1、IOPS

1.1、清除设备

nvme format /dev/nvme*

1.2、WIPC

测试参数

QD = 32

TC = 4

BS = 128K

RW = SEQ Write

SIZE = 100%

loops = 2 

1.3、WDPC

测试参数

QD = 32

TC = 4

RW = Random

RW Mix = 100/0, 95/5, 65/35, 50/50, 35/65, 5/95, 0/100

BS = 1024KiB, 128KiB, 64KiB, 32KiB, 16KiB, 8KiB, 4KiB, 0.5KiB

runtime=1min

IOPS稳态判断：

取出 RW Mix 0/100 BS=4K、RW Mix 65/35 BS=64K、RW Mix 100/0 BS=1024K的IOPS值，根据稳态判断公式确定盘是否到达稳态

2、Throughout

3、Latency

4、WSAT

5、XSR

6、HIR

7、CBW

8、DIRTH

三、测试结果

1、IOPS测试结果整理

2、取出最后五轮的数据计算平均值

3、稳态曲线图

取 BS=4K,RW=0/100；BS=64K,RW=65/35；BS=1024K,RW=100/0 IOPS值

4、IOPS测试结果图