概述:该规范描述了固态存储设备级性能测试方法、测试套件和报告格式,旨在对客户端和企业应用中使用的各种外形、协议和接口的基于NAND Flash的固态存储产品提供准确、可重复和可靠的比较
一般SSD设备都是从FOB状态经历一段时间的工作负载后到达Transition,然后过渡到稳定状态性能Steady State
Scope:
1.预处理方法
2.performance测试
3.给出测试报告
一、关键词
1、预处理Pre-conditioning:将数据写入设备以准备稳态测量的过程
(a) Workload Independent Pre-conditioning (WIPC):运行与测试工作负荷无关的规定的工作负荷的技术,作为一种便利趋于稳定状态的手段
(b) Workload Dependent Pre-conditioning (WDPC):运行测试工作负载本身的技术,通常在独立于工作负载的预处理之后,作为将设备置于相对于被测试的因变量的稳定状态的方法。
个人理解:a项是与实际测试工作负载无关;b项是实际要跑的工作负载,而a项只是在测试b项前所做的铺垫
2、稳态Steady State
判断稳态方法:最大测试25轮。先取出前五轮的测试结果进行稳态的判断,如果没有到达稳态则进行下一轮的测试,接着比较,直到到达稳态。
如果25轮还未达到稳态,则取最后五轮的数据
(a) 结果的最大值-结果的最小值小于平均值的20%
(b) 结果的最大值-结果的最小值斜率小于10%
3、清除Purge
目的:在测试之前将设备置于一致状态(清空数据)
测试NVMe SSD进行purge方法:nvme format /dev/nvme*
二、测试项目
测试盘为企业级SSD (PTS-E)
Active Range=100%,Write Cache Disable
测试盘为消费级SSD (PTS-C)
Active Range=75%,Write Cache enable
1、IOPS
1.1、清除设备
nvme format /dev/nvme*
1.2、WIPC
测试参数
QD = 32
TC = 4
BS = 128K
RW = SEQ Write
SIZE = 100%
loops = 2
1.3、WDPC
测试参数
QD = 32
TC = 4
RW = Random
RW Mix = 100/0, 95/5, 65/35, 50/50, 35/65, 5/95, 0/100
BS = 1024KiB, 128KiB, 64KiB, 32KiB, 16KiB, 8KiB, 4KiB, 0.5KiB
runtime=1min
IOPS稳态判断:
取出 RW Mix 0/100 BS=4K、RW Mix 65/35 BS=64K、RW Mix 100/0 BS=1024K的IOPS值,根据稳态判断公式确定盘是否到达稳态
2、Throughout
3、Latency
4、WSAT
5、XSR
6、HIR
7、CBW
8、DIRTH
三、测试结果
1、IOPS测试结果整理
2、取出最后五轮的数据计算平均值
3、稳态曲线图
取 BS=4K,RW=0/100;BS=64K,RW=65/35;BS=1024K,RW=100/0 IOPS值
4、IOPS测试结果图